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原文传递 基于激光光源的光学检测系统及激光光学系统
专利名称: 基于激光光源的光学检测系统及激光光学系统
摘要: 一种基于激光光源的光学检测系统,其包括至少一激光光源装置、至少一感测装置以及图像检测装置。经由照明光路,激光光源装置提供激光至目标物上,使目标物产生荧光。经由成像光路,感测装置接收自目标物产生的荧光,以产生荧光图像。图像检测装置连接至感测装置,用以接收并分析荧光图像,以获得荧光检测结果。一种激光光学系统亦被提出。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 中国台湾;71
申请人: 由田新技股份有限公司
发明人: 林伯聪;黄冠勋;李岳龙;黄建文
专利状态: 有效
申请日期: 2022-08-26T00:00:00+0800
发布日期: 2023-11-07T00:00:00+0800
申请号: CN202211033799.5
公开号: CN117007511A
代理机构: 北京同立钧成知识产权代理有限公司
代理人: 荣甜甜;臧建明
分类号: G01N21/01;G01N21/64;G02B27/48;G;G01;G02;G01N;G02B;G01N21;G02B27;G01N21/01;G01N21/64;G02B27/48
申请人地址: 中国台湾新北市中和区连城路268号10楼之1
主权项: 1.一种基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,包括: 至少一激光光源装置,经由照明光路,提供激光至目标物上,使所述目标物产生荧光; 至少一感测装置,经由成像光路,接收自所述目标物产生的所述荧光,以产生荧光图像;以及 图像检测装置,连接至所述至少一感测装置,用以接收并分析所述荧光图像,以获得荧光检测结果。 2.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述目标物包括半导体装置、半导体晶圆、半导体芯片、电路板、显示面板或其他含有有机物的物体。 3.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述激光光源装置包括多个侧光源,以不同的入射角度照射所述目标物,使所述目标物产生荧光。 4.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,还包含: 分光镜,经由所述照明光路,自所述激光光源装置引导所述激光至所述目标物上,并经由所述成像光路,自所述目标物引导所述荧光至所述感测装置。 5.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,感测装置,经由所述照明光路,通过物镜系统或定焦镜系统接收自所述目标物产生的所述荧光,以产生所述荧光图像。 6.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述感测装置的类型包括线扫描摄影机和/或面扫描摄影机。 7.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,还包含: 光源滤镜模块,经由所述照明光路,使所述激光的激发光波长成分通过至目标物上;以及 感测装置滤镜模块,经由所述成像光路,使所述荧光的波长成分通过,藉以产生所述荧光图像。 8.根据权利要求1所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述激光光源装置包括: 发光单元,用以提供所述激光; 匀化光纤,连接至所述发光单元,接收并传输所述激光;以及 高频振荡器,设置在所述匀化光纤的入光端,藉以振动所述匀化光纤。 9.根据权利要求8所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述发光单元包括高斯分布的激光光源。 10.一种基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,包括: 物镜,经由成像光路对目标物成像; 激光光源装置,经由照明光路,通过所述物镜提供激光至所述目标物上,使所述目标物产生荧光; 光源滤镜模块,经由所述照明光路,使所述激光的激发光波长成分通过至所述目标物上; 线扫描摄影机,经由所述成像光路,通过所述物镜接收自所述目标物上的所述荧光,以获得荧光图像; 感测装置滤镜模块,经由所述成像光路,使所述荧光的波长成分通过,藉以产生所述荧光图像;以及 图像检测装置,连接至所述线扫描摄影机,接收并分析所述荧光图像,以获得荧光检测结果。 11.根据权利要求10所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述目标物包括半导体装置、半导体晶圆、半导体芯片、电路板、显示面板或其他含有有机物的物体。 12.根据权利要求10所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,还包含: 分光镜,设置于所述照明光路与所述成像光路之间,自所述激光光源装置引导所述激光至所述目标物上,并经由所述成像光路,自所述目标物引导所述荧光至所述线扫描摄影机。 13.根据权利要求10所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述激光光源装置包括: 发光单元,用以提供所述激光; 匀化光纤,连接至所述发光单元,接收并传输所述激光;以及 高频振荡器,设置在所述匀化光纤的入光端,藉以振动所述匀化光纤。 14.根据权利要求13所述的基于激光光源的光学检测系统,其特征在于,所述发光单元包括高斯分布的激光光源。 15.一种激光光学系统,其特征在于,包括: 发光单元,经由照明光路,提供激光至目标物上,使所述激光于感测装置上产生目标物图像; 匀化光纤,经由所述照明光路,自所述发光单元接收并传输所述激光; 高频振荡器,设置在所述匀化光纤的入光端,振动所述匀化光纤,藉以降低所述目标物图像上的光斑。 16.根据权利要求15所述的激光光学系统,其特征在于,所述发光单元包括高斯分布的激光光源。 17.根据权利要求15所述的激光光学系统,其特征在于,还包括: 所述感测装置,经由成像光路,接收自所述目标物反射的所述激光,以产生所述目标物图像;以及 图像检测装置,连接至所述感测装置,用以接收并分析所述目标物图像,以获得图像检测结果。 18.根据权利要求17所述的激光光学系统,其特征在于,还包括: 分光镜,经由所述照明光路,自所述发光单元引导所述激光至所述目标物上,并经由所述成像光路,自所述目标物引导所述激光至所述感测装置。
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