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原文传递一种穆勒矩阵测量系统及方法

专利名称：	一种穆勒矩阵测量系统及方法
摘要：	本发明提出一种新的穆勒矩阵测量系统及方法，能够高效、准确地测量目标的Mueller矩阵。该测量系统包括：沿光路依次设置的光源系统、起偏系统、待测目标以及检偏系统和计算机处理系统；起偏系统包括沿入射光路依次设置的垂直线偏振片、第一液晶相位延迟器以及第二液晶相位延迟器，两个液晶相位延迟器的快轴与水平方向夹角分别为45°和90°；检偏系统为分孔径全偏振态同时探测的偏振相机，光源系统满足：最终经待测目标出射的偏振光覆盖所述偏振相机的全部光通道；计算机处理系统用于控制加载在两个液晶相位延迟器上的电压以实现入射在待测目标上光的偏振态的调制，并保存相机采集到的强度图，根据光强值计算穆勒矩阵。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	陕西;61
申请人：	中国科学院西安光学精密机械研究所
发明人：	巨海娟;梁健;任立勇;屈恩世;白兆峰;胡宝文
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810558462.3
公开号：	CN108918425A
代理机构：	西安智邦专利商标代理有限公司 61211
代理人：	胡乐
分类号：	G01N21/21(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/21
申请人地址：	710119 陕西省西安市高新区新型工业园信息大道17号
主权项：	1.一种穆勒矩阵测量系统，其特征在于，包括：沿光路依次设置的光源系统、起偏系统、待测目标以及检偏系统和计算机处理系统；所述起偏系统包括沿入射光路依次设置的垂直线偏振片、第一液晶相位延迟器以及第二液晶相位延迟器，两个液晶相位延迟器的快轴与水平方向夹角分别为45°和90°；所述检偏系统为分孔径全偏振态同时探测的偏振相机，所述光源系统满足：最终经待测目标出射的偏振光覆盖所述偏振相机的全部光通道；所述计算机处理系统用于控制加载在两个液晶相位延迟器上的电压以实现入射在待测目标上光的偏振态的调制，并保存相机采集到的强度图，根据光强值计算穆勒矩阵。
所属类别：	发明专利