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一种高时间分辨率的穆勒矩阵椭偏测量装置与方法
| 专利名称： | 一种高时间分辨率的穆勒矩阵椭偏测量装置与方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种高时间分辨率的穆勒矩阵椭偏测量装置及测量方法。入射光路采用4个偏振调制通道将一束脉冲激光分束且调制成4束偏振态相互独立的偏振光束，利用不同光程差使得各脉冲之间产生数纳秒的时间间隔，并将此4束脉冲激光依次辐照在样品表面。反射光路采用六通道偏振检测模块同步测量样品表面的反射光束的斯托克斯向量。利用此4束脉冲的已知入射与反射斯托克斯向量，可通过解线性方程组来求取样品的穆勒矩阵。本发明的装置及方法能够将穆勒矩阵的分辨率提高至脉冲光源的一个重复周期内，根据设定的脉冲光源的脉冲周期，穆勒矩阵的时间分辨率可以提高至数十纳秒级，能够广泛应用于光全息聚合物、有序材料等复杂纳米结构的原位动态测量。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 华中科技大学 |
| 发明人： | 江浩;刘佳敏;刘世元;张松;钟志成;陈修国;谷洪刚 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810536399.3 |
| 公开号： | CN108801930A |
| 代理机构： | 华中科技大学专利中心 42201 |
| 代理人： | 尚威;李智 |
| 分类号： | G01N21/21(2006.01)I;G01N21/47(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/21;G01N21/47 |
| 申请人地址： | 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号 |
| 主权项： | 1.一种高时间分辨率的穆勒矩阵椭偏测量装置，用于测量待测材料的穆勒矩阵，其特征在于，包括入射光路和反射光路；入射光路包括短脉冲激光光源(10)、偏振片(40)和第一至第四偏振调制通道(50、60、70、80)；短脉冲激光光源(10)发出的光束透过偏振片(40)后依次进入第一至第四偏振调制通道(50、60、70、80)，分别经第一至第四偏振调制通道(50、60、70、80)内的方位角互不相同的第一至第四1/4波片(502、602、702、802)进行偏振调制后，得到斯托克斯向量互不相关的4路子脉冲入射光束并投射至待测材料，被待测材料反射后进入反射光路；反射光路包括2个非偏振分束器(1001、1101)、第五1/4波片(1002)、1/2波片(1102)、第一偏振分束器(1003)、第二偏振分束器(1103)、第三偏振分束器(1201)、6个探测模块、示波器和计算机；待测材料反射的光束经2个非偏振分束器(1001、1101)分为3路光束；第一路经第五1/4波片(1002)调制后进入第一偏振分束器(1003)，第二路经1/2波片(1102)调制后进入偏振分束器(1103)，第三路进入第三偏振分束器(1201)；3路光束分别经第一至第三偏振分束器分为6路，一一对应被6个探测模块转换为电信号后进入示波器和计算机。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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