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一种确定材料太赫兹吸收峰的方法
| 专利名称： | 一种确定材料太赫兹吸收峰的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种确定材料太赫兹吸收峰的方法，包括：测量样品信号，截取主透射峰，获得时间‑频谱曲线，获得时间‑频谱振幅曲线，以及计算得到吸收峰，得到的吸收峰与材料吸收特性相关，基线平坦，吸收峰明显。该方法针对使用太赫兹波时域光谱系统快速测量材料太赫兹波段吸收峰而设计，通过对材料太赫兹时域光谱信息的时频分析直接得到材料的吸收峰曲线，无需测量材料的参考信号，突破了传统方法需要两次测量才能确定材料吸收峰的限制，提高样品吸收峰的识别速率。同时，由于无需测量材料的参考信号，所以该方法也适用于无法获得参考信号情况下的材料识别。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京环境特性研究所 |
| 发明人： | 张景;殷红成;肖志河 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201811187003.5 |
| 公开号： | CN108918458A |
| 代理机构： | 北京格允知识产权代理有限公司 11609 |
| 代理人： | 周娇娇 |
| 分类号： | G01N21/3586(2014.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/3586 |
| 申请人地址： | 100854 北京市海淀区永定路50号 |
| 主权项： | 1.一种确定材料太赫兹吸收峰的方法，其特征在于，包括如下步骤：S1、测量含有待测样品信息的太赫兹脉冲e(t)作为样品信号；S2、从样品信号中截取主透射峰区域信号；S3、改变时间窗口长度T，从主透射峰区域信号提取不同时间窗口长度的信号，并进行傅里叶变换，得到时间‑频谱曲线E(ω,T)；S4、改变频点ω'频率，从时间‑频谱曲线E(ω,T)获得频点ω'频谱振幅随时间窗口变化的时间‑频谱振幅曲线E(ω',T)，并取其最大值Emax(ω',T)和全窗口值E(ω',Tmax)；S5、根据时间‑频谱振幅曲线E(ω',T)的最大值Emax(ω',T)和全窗口值E(ω',Tmax)，计算待测样品的吸收峰。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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