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一种光缆表面缺陷检测装置及方法
| 专利名称： | 一种光缆表面缺陷检测装置及方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种光缆表面缺陷检测装置及方法，其包括光缆表面缺陷检测装置及其运用该装置检测光缆表面缺陷的检测方法，光缆缺陷检测装置包括可升降支架，可升降支架内设置有圆筒形结构的检测腔，检测腔内安装有成圆周均匀分布的三台照相机和光源；编码器、工控机、照相机和计数模块均与特供电源和装置总开关连接；光缆缺陷检测方法包括步骤S1‑S5。本发明的光缆缺陷检测装置拍摄的图片清晰，可有效降低后期处理图片的难度；光缆缺陷检测装置可实时获取光缆缺陷的详细信息，提高了企业生产效率；该检测方法使检测效果更精确、快速；并且可直接用于光缆生产联动系统中。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 成都理工大学 |
| 发明人： | 高嵩;张澎;刘勋;石丰华;窦悉丝;白旭升;严坤林;郭智伦;谢劲锋 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810993422.1 |
| 公开号： | CN108918542A |
| 代理机构： | 成都正华专利代理事务所(普通合伙) 51229 |
| 代理人： | 何凡 |
| 分类号： | G01N21/89(2006.01)I;G01N21/892(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/89;G01N21/892 |
| 申请人地址： | 610059 四川省成都市成华区二仙桥东三路1号 |
| 主权项： | 1.一种光缆表面缺陷检测装置，其特征在于，包括可升降支架，所述可升降支架内设置有圆筒形结构的检测腔(12)，所述检测腔(12)内安装有成圆周均匀分布的三台照相机(4)，且三台照相机(4)的聚焦点为检测腔(12)的中心位置；所述检测腔(12)内设置有光源(13)，所述光源(13)的照射点为照相机(4)的聚焦点；所述照相机(4)与工控机(9)和编码器(7)连接，所述编码器(7)设置于检测腔(12)外；所述编码器(7)和工控机(9)与计数模块(11)连接，所述工控机(9)上连接有显示屏(1)，所述显示屏(1)安装在可升降支架上；所述编码器(7)、工控机(9)、照相机(4)和计数模块(11)均与特供电源(10)和装置总开关(2)连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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