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用于X射线荧光分析法测量硅锰合金中锰硅磷含量的试样的制备方法
| 专利名称： | 用于X射线荧光分析法测量硅锰合金中锰硅磷含量的试样的制备方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种用于X射线荧光分析法测量硅锰合金中锰硅磷含量的试样的制备方法。包括一次配料、预氧化、二次配料、熔融，一次配料是用滤纸及混合氧化剂包裹锰硅合金试样，将试料包裹成球状；预氧化是将坩埚内填满石墨并将球状试料放入石墨凹坑中，然后在高温马弗炉内氧化成椭球状试料；二次配料是在铂金器皿铺碘化铵脱模剂，放置冷却好的椭球状试料，用四硼酸锂和偏硼酸混合熔剂覆盖椭球状试料；熔融是将铂金器皿放入熔片机内，在1000℃～1050℃温度状态下熔融15～25min得到熔片即为试样，可直接用于X射线光谱分析仪进行分析。本发明可多样同时制作且过程可控性简单，试验耗时短，制作成本低，X射线荧光分析结果准确度高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 唐山瑞丰钢铁（集团）有限公司 |
| 发明人： | 齐超群;郑昌清;高三军;李雪松;张宁;张娜;韩爱丽;黄正一;李宏亮 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810895847.9 |
| 公开号： | CN108918563A |
| 代理机构： | 唐山永和专利商标事务所 13103 |
| 代理人： | 张云和 |
| 分类号： | G01N23/2202(2018.01)I;G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2202;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 063300 河北省唐山市丰南区小集镇古庄 |
| 主权项： | 1.一种用于X射线荧光分析法测量硅锰合金中锰硅磷含量的试样的制备方法，其特征在于，包括以下步骤：a.一次配料：将制作好的滤纸放置在电子天平内并去掉皮重，然后在滤纸上按顺序称量0.5～2份硼酸和1.0～3.5份无水碳酸钠并搅拌均匀形成混合氧化剂，加入0.2份锰硅合金试样置于混合氧化剂上部中间位置，再用混合氧化剂完全覆盖，然后用滤纸将试料包裹成球状混合料；b.预氧化：将坩埚内填满石墨并中间压实形成凹坑，将包裹好的球状混合料放入凹坑，然后将坩埚放入温度在850℃～900℃的马弗炉内，关闭马弗炉后保持850℃～900℃温度状态20～25min，最后打开马弗炉取出氧化成椭球状的试料，在室温下冷却；c.二次配料：在铂金器皿中倒入0.5份～1.5份碘化铵铺底做脱模剂，其上放置冷却好的椭球状试料，并用6～8份四硼酸锂和偏硼酸混合熔剂覆盖椭球状试料，混合熔剂中，四硼酸锂67%，偏硼酸33%；d.熔融：将铂金皿放入熔片机内，在1000℃～1050℃温度状态下熔融15～25min，取出、静置冷却，得到熔片，熔片冷却后即为可直接应用X射线光谱分析仪进行分析将铂金器皿放入熔片机内，在1000℃～1050℃温度状态下熔融15～25min，取出、静置冷却，得到熔片，熔片冷却后即为直接用于X射线光谱分析仪进行分析的试样。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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