原文传递
一种直接分析固体样品的微波等离子体原子发射光谱法及其系统
| 专利名称： | 一种直接分析固体样品的微波等离子体原子发射光谱法及其系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种可固体进样的微波等离子体原子发射光谱法及系统。本发明方法的步骤为：(1)取已知元素含量的标准固体样品，直接作为对照品或压片后得到对照品；(2)取待测固体样品，按照步骤(1)相同的方法，得到供试品；(3)分别将对照品和供试品用本发明微波等离子体光谱仪进行检测；根据对照品检测结果，选取元素特征谱线；并绘制标准曲线，并根据供试品中各谱线位置和/或强度计算得到供试品中各元素的种类和/或含量。本发明还公开了一种微波等离子体原子发射光谱仪，它包括微波等离子体系统、气体传输系统、样品承载系统、信号收集系统和数据分析系统。本发明测试方法操作简单，分析速度快，避免化学试剂使用，对环境友好。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 四川;51 |
| 申请人： | 四川大学 |
| 发明人： | 段忆翔;牛广辉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201710625931.4 |
| 公开号： | CN107664633A |
| 代理机构： | 成都高远知识产权代理事务所(普通合伙) 51222 |
| 代理人： | 李高峡;张娟 |
| 分类号： | G01N21/71(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/71 |
| 申请人地址： | 610000 四川省成都市一环路南一段24号 |
| 主权项： | 一种直接分析固体样品的微波等离子体原子发射光谱法，其特征在于：它包括以下步骤：(1)取已知元素含量的标准固体样品，直接作为对照品或压片后得到对照品；(2)取待测固体样品，按照步骤(1)相同的方法，得到供试品；(3)分别将对照品和供试品用微波等离子体光谱仪进行检测；根据对照品检测结果，选取元素特征谱线，并绘制谱线强度‑元素含量标准曲线，并根据供试品检测结果中各谱线位置和/或强度计算得到供试品中各元素种类和/或含量。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
