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一种用于极谱法中滴汞电极的滴汞周期调节方法和系统
| 专利名称： | 一种用于极谱法中滴汞电极的滴汞周期调节方法和系统 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用于极谱法中滴汞电极的滴汞周期调节方法和系统，该方法首先通过理论分析汞面高度与汞滴形成之间的关系，利用实验数据建立二次抛物线模型；利用该模型用来计算特定需求的滴汞周期所需的汞面高度；然后微控制器依据计算得到的汞面高度参数给升降杆驱动装置发送PWM驱动信号，升降杆带动滴汞杯提升；同时使用测距传感器实时将汞面的相对高度测量出来并以脉冲的形式反馈给微控制器，形成对汞面高度的闭环控制。针对不同的检测需求，准确调节汞面的相对高度达到控制汞滴的形成，从而提高极谱测量的精确度，减少汞的使用量，自动化程度提高，减少了人工干预，提高检测精度和检测效率。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖南;43 |
| 申请人： | 中南大学 |
| 发明人： | 朱红求;周涛;阳春华;李勇刚;章敏 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810326478.1 |
| 公开号： | CN108414605A |
| 代理机构： | 长沙市融智专利事务所 43114 |
| 代理人： | 龚燕妮 |
| 分类号： | G01N27/48(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N27/48 |
| 申请人地址： | 410083 湖南省长沙市岳麓区麓山南路932号 |
| 主权项： | 1.一种用于极谱法中滴汞电极的滴汞周期调节方法，其特征在于，包括以下步骤：步骤1，构建汞面高度与滴汞周期之间的数学模型；随汞面高度变化，测量用于极谱测量的标准溶液的极谱电流数据，使用多项式对汞面高度与对应的用于极谱测量的标准溶液的极谱电流数据进行曲线拟合，得到拟合函数关系式；并基于所述标准溶液的极谱电流与汞滴表面积的对应关系，以及滴汞周期和汞滴表面积的对应关系，构建汞面高度与滴汞周期之间的数学模型；步骤2，依据步骤1所述数学模型和电化学测量仪器所需的滴汞周期计算出对应汞面高度；步骤3，依据计算得到的汞面高度，改变滴汞杯的高度，实现滴汞周期的调节。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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