专利名称: |
一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法 |
摘要: |
本发明提供一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法,步骤如下:一,选择合适的传感器;二,建立贝叶斯风险函数;三,建立贝叶斯风险函数优化方程,寻找最优的布局方案;四,传感器布局方案量化分析,用检出率和虚警率来量化给定的传感器布局方案的优劣;五,传感器布局的损伤组网监测;通过以上步骤,本发明实现了基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测,实现了复杂结构损伤信号的有效提取,降低复杂结构尺寸和构型对监测信号传播、采集的影响;优化有限资源分配,提高系统监控能力,降低设备全寿命周期成本;并且采用多场探测的方法,缓解了压电技术受结构的影响较大,光纤技术不能直接监测裂纹,智能涂层虚警率高的问题。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京航空航天大学 |
发明人: |
张卫方;蓝煜东;金博;刘晓鹏;戴伟;任飞飞;谢宇宽 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810174451.5 |
公开号: |
CN108414626A |
代理机构: |
北京慧泉知识产权代理有限公司 11232 |
代理人: |
王顺荣;唐爱华 |
分类号: |
G01N29/44(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I;G06N3/12(2006.01)I;G;G01;G06;G01N;G06N;G01N29;G06N3;G01N29/44;G01N29/04;G06N3/12 |
申请人地址: |
100191 北京市海淀区学院路37号 |
主权项: |
1.一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法,其特征在于:其步骤如下:步骤一,针对具体的复杂结构和各传感器的监测特点,选择合适的传感器;步骤二,计算不同损伤模式在虚警/漏警情况下成本损失后验分布函数,由贝叶斯分析法建立由分布式传感器布局方法、损失成本与结构损伤概率分布组成的贝叶斯风险函数,即建立贝叶斯风险函数;步骤三,建立贝叶斯风险函数优化方程,通过计算风险函数的最小值去寻找最优的布局方案;步骤四,传感器布局方案量化分析,用检出率和虚警率来量化给定的传感器布局方案的优劣;步骤五,对于确定的传感器物理布局,制定最优的监测数据的选取问题,即传感器布局的损伤组网监测。 |
所属类别: |
发明专利 |