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原文传递 一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法
专利名称: 一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法
摘要: 本发明提供一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法,步骤如下:一,选择合适的传感器;二,建立贝叶斯风险函数;三,建立贝叶斯风险函数优化方程,寻找最优的布局方案;四,传感器布局方案量化分析,用检出率和虚警率来量化给定的传感器布局方案的优劣;五,传感器布局的损伤组网监测;通过以上步骤,本发明实现了基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测,实现了复杂结构损伤信号的有效提取,降低复杂结构尺寸和构型对监测信号传播、采集的影响;优化有限资源分配,提高系统监控能力,降低设备全寿命周期成本;并且采用多场探测的方法,缓解了压电技术受结构的影响较大,光纤技术不能直接监测裂纹,智能涂层虚警率高的问题。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北京航空航天大学
发明人: 张卫方;蓝煜东;金博;刘晓鹏;戴伟;任飞飞;谢宇宽
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810174451.5
公开号: CN108414626A
代理机构: 北京慧泉知识产权代理有限公司 11232
代理人: 王顺荣;唐爱华
分类号: G01N29/44(2006.01)I;G01N29/04(2006.01)I;G06N3/12(2006.01)I;G;G01;G06;G01N;G06N;G01N29;G06N3;G01N29/44;G01N29/04;G06N3/12
申请人地址: 100191 北京市海淀区学院路37号
主权项: 1.一种基于贝叶斯风险函数的多传感器损伤组网监测方法,其特征在于:其步骤如下:步骤一,针对具体的复杂结构和各传感器的监测特点,选择合适的传感器;步骤二,计算不同损伤模式在虚警/漏警情况下成本损失后验分布函数,由贝叶斯分析法建立由分布式传感器布局方法、损失成本与结构损伤概率分布组成的贝叶斯风险函数,即建立贝叶斯风险函数;步骤三,建立贝叶斯风险函数优化方程,通过计算风险函数的最小值去寻找最优的布局方案;步骤四,传感器布局方案量化分析,用检出率和虚警率来量化给定的传感器布局方案的优劣;步骤五,对于确定的传感器物理布局,制定最优的监测数据的选取问题,即传感器布局的损伤组网监测。
所属类别: 发明专利
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