专利名称: |
自动光学检测设备 |
摘要: |
本发明涉及一种自动光学检测设备,用于对待测物的缺陷进行检测,包括:光源照明装置,包括亮视场光源、暗视场光源和背光源中的至少两种光源;所述光源照明装置中的至少两种光源相互切换照射于所述待测物上;图像获取装置,用于对所述待测物进行扫描并分别获取所述待测物在各光源下的灰阶图像信息;以及图像处理装置,与所述图像获取装置连接,用于根据各灰阶图像信息判断所述待测物是否存在缺陷并输出缺陷检测结果。上述自动光学检测设备能够有效检出待测物上的缺陷,检出率较高。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
昆山国显光电有限公司 |
发明人: |
高文龙 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810205730.3 |
公开号: |
CN108414530A |
代理机构: |
广州华进联合专利商标代理有限公司 44224 |
代理人: |
唐清凯 |
分类号: |
G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88 |
申请人地址: |
215300 江苏省苏州市昆山市开发区龙腾路1号4幢 |
主权项: |
1.一种自动光学检测设备,用于对待测物的缺陷进行检测,其特征在于,包括:光源照明装置,包括亮视场光源、暗视场光源和背光源中的至少两种光源;所述光源照明装置中的至少两种光源相互切换照射于所述待测物上;图像获取装置,用于对所述待测物进行扫描并分别获取所述待测物在各光源下的灰阶图像信息;以及图像处理装置,与所述图像获取装置连接,用于根据各灰阶图像信息判断所述待测物是否存在缺陷并输出缺陷检测结果。 |
所属类别: |
发明专利 |