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一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法
| 专利名称： | 一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，首先对流水线进入的LCD面板进行所有检测画面的缺陷检测后，针对在L48画面初步判定为亮点类缺陷的LCD面板，排除判定LCD面板中由于灰尘干扰导致误判的LCD面板；对存在CELL异物晕开或白点Mura或者亮点缺陷的面板依次进行Black画面以及ParticleDown画面的复判，确定该面板的最终所属缺陷。本发明无需对当前的AOI结构进行修改，不会增加任何的硬件成本；也不会对检测的TT带来任何的影响，具有容易实现、成本低、实用性高的特点；提高了AOI检测系统的性能，减少人工检测的人力投入。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉精测电子集团股份有限公司 |
| 发明人： | 罗巍巍;张胜森 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810075082.4 |
| 公开号： | CN108414535A |
| 代理机构： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 |
| 代理人： | 鲁力 |
| 分类号： | G01N21/95(2006.01)I;G02F1/13(2006.01)I;G;G01;G02;G01N;G02F;G01N21;G02F1;G01N21/95;G02F1/13 |
| 申请人地址： | 430070 湖北省武汉市洪山区南湖大道53号洪山创业中心4楼 |
| 主权项： | 1.一种LCD白点Mura缺陷与Cell异物晕开缺陷判别方法，其特征在于，包括：对流水线进入的LCD面板进行所有检测画面的缺陷检测后，针对在L48画面初步判定为亮点类缺陷的LCD面板，排除判定LCD面板中由于灰尘干扰导致误判的LCD缺陷；对存在CELL异物晕开或白点Mura或者亮点缺陷的面板依次进行Black画面以及ParticleDown画面的复判，确定该面板的最终所属缺陷。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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