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原文传递一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统

专利名称：	一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统
摘要：	本发明公开了一种表面异物缺陷快速过滤方法及系统，涉及自动化缺陷检测技术领域；该方法包括以下步骤：S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测；S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁；S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测；S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息；本发明通过对第一图像和第二图像的异物检测结果进行比对，能够准确区分表面异物和膜内异物，并快速准确的对表面异物进行过滤，从而节省了人工复判的时间，提高了AOI检测效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	湖北;42
申请人：	武汉精立电子技术有限公司
发明人：	陈武;宫强;张胜森;郑增强
专利状态：	有效
申请日期：	2019-04-26T00:00:00+0800
发布日期：	2019-08-09T00:00:00+0800
申请号：	CN201910346205.8
公开号：	CN110108713A
代理机构：	武汉东喻专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	赵伟
分类号：	G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址：	430205 湖北省武汉市东湖新技术开发区流芳园南路22号
主权项：	1.一种表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，包括以下步骤： S1：获取点亮后的背光源组件的第一图像，对所述第一图像进行异物检测； S2：对所述背光源组件的表面异物进行清洁； S3：获取清洁后的背光源组件的第二图像，对所述第二图像进行缺陷检测； S4：将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。 2.如权利要求1所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，所述第一图像的异物检测结果存储在第一缺陷列表中，所述第一缺陷列表包括第一图像中的异物缺陷的坐标信息；该异物缺陷包括表面异物和膜内异物缺陷；所述第二图像的缺陷检测结果存储在第二缺陷列表中，所述第二缺陷列表包括第二图像中的全部缺陷的坐标信息；该全部缺陷包括异物缺陷和非异物缺陷。 3.如权利要求2所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，步骤S3之后还包括：根据所述第一缺陷列表和第二缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；具体的：当所述第一缺陷列表为空时，无需进行比对，直接输出第二缺陷列表的缺陷检测结果；当所述第二缺陷列表为空时，无需进行比对，判定该背光源组件无缺陷。 4.如权利要求1或3所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，步骤S4中，所述第一图像和第二图像的比对结果存储在第三缺陷列表中，所述第三缺陷列表包括同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷的坐标信息，以及第二图像上的非异物缺陷的坐标信息。 5.如权利要求4所述的表面异物缺陷快速过滤方法，其特征在于，还包括： S5：根据所述第三缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；当所述第三缺陷列表为空时，判定该背光源组件无缺陷；否则，判定该背光源组件存在缺陷。 6.一种表面异物缺陷快速过滤系统，包括CCD相机和清洁滚轮；所述CCD相机用于采集背光源组件的表面图像；所述清洁滚轮用于对背光源组件的表面异物进行清洁；其特征在于，还包括处理器、存储器以及存储在所述存储器中并可在所述处理器中运行的计算机程序，所述计算机程序被执行时控制所述清洁滚轮和CCD相机实现权利要求1～5任一项所述方法的步骤。 7.如权利要求6所述的表面异物缺陷快速过滤系统，其特征在于，所述处理器包括图像检测单元、滚轮控制单元和比较单元；所述图像检测单元用于获取CCD相机采集的点亮后的背光源组件的第一图像并对所述第一图像进行异物检测；并用于对CCD相机采集的清洁后的背光源组件的第二图像进行缺陷检测；所述滚轮控制单元用于在CCD相机采集所述第一图像之后发出控制指令，所述控制指令用于触发清洁滚轮转动以对背光源组件的表面异物进行清洁；所述比较单元用于将第一图像和第二图像的检测结果进行比对，保留同时存在于第一图像和第二图像上且位置相同的膜内异物缺陷信息，滤除表面异物缺陷信息。 8.如权利要求7所述的表面异物缺陷快速过滤系统，其特征在于，所述第一图像的异物检测结果存储在第一缺陷列表中，所述第一缺陷列表包括第一图像中的异物缺陷的坐标信息；该异物缺陷包括表面异物和膜内异物缺陷；所述第二图像的缺陷检测结果存储在第二缺陷列表中，所述第二缺陷列表包括第二图像中的全部缺陷的坐标信息；该全部缺陷包括异物缺陷和非异物缺陷。 9.如权利要求7或8所述的表面异物缺陷快速过滤系统，其特征在于，所述处理器还包括第一判断单元；所述第一判断单元用于根据所述第一缺陷列表和第二缺陷列表对背光源组件的缺陷情况进行判断；具体的：当所述第一缺陷列表为空时，无需进行比对，直接输出第二缺陷列表中的缺陷检测结果；当所述第二缺陷列表为空时，无需进行比对，判定该背光源组件无缺陷。 10.如权利要求9所述的表面异物缺陷快速过滤系统，其特征在于，所述处理器还包括第二判断单元；所述第二判断单元用于根据第三缺陷列表中存储的比对结果对背光源组件的缺陷情况进行判断：当所述第三缺陷列表为空时，判定该背光源组件无缺陷；否则，判定该背光源组件存在缺陷。
所属类别：	发明专利