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原文传递 半导体元件影像测试装置
专利名称: 半导体元件影像测试装置
摘要: 本实用新型是有关于一种半导体元件影像测试装置,包括有一测试头、一针测机以及至少一影像撷取卡,所述测试头包括有一测试载板及多个插设于测试载板的测试卡,所述针测机包括有一测试接口板、一与该测试接口板电连接的探针卡以及多个探针。其中,至少一影像撷取卡插设于至少一转接板上,至少一转接板包括一第一端部及一第二端部,第一端部电连接测试载板,第二端部电连接测试接口板,有效改善影像撷取卡的换装方式,提升信号传输时的测试带宽,同时具备灵活的系统配置,可配合产品不同的待测数量进行调整,取得最佳的测试效率。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 中国台湾;71
申请人: 京元电子股份有限公司
发明人: 蔡秉谚;宋柏宽
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201820069202.5
公开号: CN207779924U
代理机构: 中科专利商标代理有限责任公司 11021
代理人: 任岩
分类号: G01N21/95(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/95;G01N21/01
申请人地址: 中国台湾新竹市公道五路二段81号
主权项: 1.一种半导体元件影像测试装置,包括有:一测试头、一针测机、至少一影像撷取卡以及至少一转接板,该测试头包括有一测试载板及多个插设于该测试载板的测试卡,该针测机包括有一测试接口板、一与该测试接口板电连接的探针卡以及多个探针;其特征在于,该至少一影像撷取卡插设于至少一转接板上,该至少一转接板包括一第一端部及一第二端部,该第一端部电连接该测试载板,该第二端部电连接该测试接口板,有效改善影像撷取卡的换装方式,并提升信号传输时的测试带宽。
所属类别: 实用新型
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