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基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置
| 专利名称： | 基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法及装置。该方法包括：以本发明提出的新型二维错位吸收光栅布置Talbot‑Lau成像结构；以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像；以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像。相较于传统方法，本发明实施例不需要移动光栅，一次曝光即可获得三种衬度图像，大幅减小了成像时间，降低了成像剂量，提高了系统成像效率和稳定性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京航空航天大学 |
| 发明人： | 傅健;胡棪君 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810347486.4 |
| 公开号： | CN108469443A |
| 代理机构： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
| 代理人： | 杨学明;卢纪 |
| 分类号： | G01N23/041(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I;G01N23/20(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/041;G01N23/083;G01N23/20 |
| 申请人地址： | 100191 北京市海淀区学院路37号 |
| 主权项： | 1.一种基于二维错位吸收光栅的X射线光栅差分相位衬度成像方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、利用二维错位吸收光栅布置Talbot‑Lau成像结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像；步骤2、以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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