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基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置
| 专利名称： | 基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法及装置，该方法包括：以横向错位吸收光栅布置Talbot‑Lau三维锥束层析成像结构；以上述结构获取X射线穿过物体后的二维强度图像序列；以傅里叶分析法从采集到的二维强度图像中分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种图像序列；利用吸收衬度、差分相位衬度和散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度图像序列进行图像重建获得物体三种衬度CT切片图像。本发明无需对吸收光栅进行步进，以传统基于X射线衰减的CT扫描方法即可获得三种衬度CT切片图像，大幅减小了成像时间，降低了成像剂量，提高了系统成像效率和稳定性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京航空航天大学 |
| 发明人： | 傅健;胡棪君 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810550520.8 |
| 公开号： | CN108680589A |
| 代理机构： | 北京科迪生专利代理有限责任公司 11251 |
| 代理人： | 杨学明;卢纪 |
| 分类号： | G01N23/041(2018.01)I;G01N23/046(2018.01)I;G01N23/083(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/041;G01N23/046;G01N23/083 |
| 申请人地址： | 100191 北京市海淀区学院路37号 |
| 主权项： | 1.一种基于横向错位光栅的X射线光栅差分相位衬度三维锥束计算机层析成像方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1、以基于横向错位光栅的Talbort‑Lau三维层析成像结构获取X射线穿过物体后的二维投影图像序列，所述二维投影图像序列是物体沿轴向转动过程中，探测器周期性采集X射线穿过物体后的二维投影，且在一个采集周期中采集得到一幅所述物体的二维投影图像；步骤2、对所述二维投影图像序列进行傅里叶变换分离出X射线吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度三种衬度图像；步骤3、使用吸收衬度、差分相位衬度及散射衬度滤波反投影重建算法分别对三种衬度二维图像序列进行图像重建，获得所述物体吸收衬度、相位衬度和散射衬度三种CT切片图像。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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