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原文传递自动光学检测系统及其操作方法

专利名称：	自动光学检测系统及其操作方法
摘要：	一种自动光学检测系统及其操作方法。自动光学检测系统包括第一自动光学检测机器与第二自动光学检测机器，第二自动光学检测机器电性连接至第一自动光学检测机器。第一自动光学检测机器使用第一解析度检测待测物，以检测待测物是否存在可能有缺陷的区域。第二自动光学检测机器使用比第一自动光学检测机器的第一解析度高的第二解析度，仅在可能有缺陷的区域内进行检查，以检测待测物中可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷。综上所述，自动光学检测系统兼备“零脱逃”和“零误判”这两个标准，消除了人工验证的成本和不确定性。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	中国台湾;71
申请人：	德律科技股份有限公司
发明人：	温光溥;吴文明;黄俊彦
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810211822.2
公开号：	CN108627457A
代理机构：	北京律诚同业知识产权代理有限公司 11006
代理人：	徐金国
分类号：	G01N21/01(2006.01)I;G01N21/892(2006.01)I;B07C5/342(2006.01)I;G;B;G01;B07;G01N;B07C;G01N21;B07C5;G01N21/01;G01N21/892;B07C5/342
申请人地址：	中国台湾台北市士林区徳行西路45号7楼
主权项：	1.一种自动光学检测系统，其特征在于，包括：一第一自动光学检测机器，使用一第一解析度检测一待测物，以检测该待测物是否存在可能有缺陷的区域；以及一第二自动光学检测机器，电性连接至该第一自动光学检测机器，该第二自动光学检测机器使用一第二解析度仅在该可能有缺陷的区域内进行检查，以检测该待测物中该可能有缺陷的区域内是否有任一缺陷，其中该第二解析度高于该第一解析度。
所属类别：	发明专利