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使用X射线荧光的压制粉末样品测量
| 专利名称： | 使用X射线荧光的压制粉末样品测量 |
| 摘要： | 定量X射线分析的方法包括捕集来自包含粘合剂的压制粉末样品的X射线荧光数据。假定粘合剂的量和/或分布，并且从测量的数据和假定的粘合剂量来计算样品的各种组分的浓度。然后，调节粘合剂的浓度并重复计算步骤，直到该方法收敛。允许该方法采取粘合剂量的广泛不同的值，该粘合剂量可以是样品中的粘合剂的浓度或可选择地在用于计算的模型的表面处的假定的薄层的厚度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 荷兰;NL |
| 申请人： | 马尔文帕纳科公司 |
| 发明人： | 布鲁诺·阿尔弗雷德·罗伯特·佛博斯;迪克·林凯珀;萨斯基亚·玛丽亚·安吉拉·比尔肯斯 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810535095.5 |
| 公开号： | CN108982560A |
| 代理机构： | 北京安信方达知识产权代理有限公司 11262 |
| 代理人： | 胡秋玲;郑霞 |
| 分类号： | G01N23/223(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/223 |
| 申请人地址： | 荷兰阿尔默洛 |
| 主权项： | 1.一种定量X射线分析方法，包括：接收使用另外的粘合剂制备的压制样品的X射线荧光数据；初始化假定的粘合剂量；基于所述X射线荧光数据和所述假定的粘合剂量，计算所述样品的多种组分的浓度；基于计算多种组分的浓度的步骤的结果，改变所述假定的粘合剂量；重复计算所述样品的多种组分的浓度和所述粘合剂的浓度的步骤以及改变所述假定的粘合剂量的步骤，直到计算收敛；以及输出所述样品的组分的浓度。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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