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原文传递纳米颗粒粒径测量系统

专利名称：	纳米颗粒粒径测量系统
摘要：	本申请提供一种纳米颗粒粒径测量系统，激光光源将激光从入射装置中发出，入射光通过入射光通孔射入散射发生装置。散射发生装置设置有多个入射光通孔与多个出射光通孔。多个入射光通孔与多个所述出射光通孔设置于同一水平面。每个信号探测接收器对应一个所述出射光通孔，用于接收出射光通孔发出的出射光。纳米颗粒粒径测量系统在多个角度上对待测纳米颗粒的同一散射中心进行同时测量，能获得散射中心纳米颗粒的更多有效信息，尤其对于双峰分布的颗粒体系，测量更加准确。此外，纳米颗粒粒径测量系统内设置有偏振光路，通过测量偏振入射光经过散射体后偏振方向的改变，实现对棒状纳米颗粒的长径比的测量求解。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国计量科学研究院
发明人：	黄鹭;高思田;施玉书;李伟;李琪
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810243972.1
公开号：	CN108287126A
代理机构：	北京华进京联知识产权代理有限公司 11606
代理人：	赵永辉
分类号：	G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02
申请人地址：	100029 北京市朝阳区北三环东路18号
主权项：	1.一种纳米颗粒粒径测量系统，其特征在于，包括：光入射装置(20)，用以改变入射光的入射角度；散射发生装置(30)，所述散射发生装置(30)设置有多个入射光通孔(310)与多个出射光通孔(320)，入射光通过所述入射光通孔(310)射入所述散射发生装置(30)，所述多个入射光通孔(310)与所述多个所述出射光通孔(320)设置于同一水平面，且所述多个入射光通孔(310)与所述多个出射光通孔(320)的轴线相交于同一中心点；多个信号探测接收器(40)，安装于所述散射发生装置(30)，每个所述信号探测接收器(40)对应一个所述出射光通孔(320)，用于接收所述出射光通孔(320)发出的出射光；多个光子计数器(50)，每个所述光子计数器(50)与一个所述信号探测接收器(40)连接，用以检测光脉冲信号功率；以及支承装置(70)，所述支承装置(70)与所述光入射装置(20)可拆卸连接，所述支承装置(70)与所述散射发生装置(30)可拆卸连接，所述支承装置(70)与多个所述光子计数器(50)可拆卸连接。
所属类别：	发明专利