原文传递
一种纳米颗粒粒径测量装置及方法
| 专利名称： | 一种纳米颗粒粒径测量装置及方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种纳米颗粒粒径测量装置及方法，将无线电技术中的差拍 技术用于动态光散射的频谱测量，通过对散射光信号的频谱的分析就能得到 颗粒的粒径信息，与国内现有的技术相比，具有实现简单，测量精度高的特 点，为纳米颗粒粒径测量技术的进步又提出了新的思路。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 上海;31 |
| 申请人： | 上海理工大学 |
| 发明人： | 杨 晖;郑 刚;张仁杰;李孟超;孔 平 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2009-04-17T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200910049537.6 |
| 公开号： | CN101571470 |
| 代理机构： | 上海申汇专利代理有限公司 |
| 代理人： | 吴宝根 |
| 分类号： | G01N15/02(2006.01)I |
| 申请人地址： | 200093上海市杨浦区军工路516号 |
| 主权项： | 1、一种纳米颗粒粒径测量装置，其特征在于，包括激光器(1)、凸透镜 (2)、样品池(3)、针孔光阑(4、5)、滤光片(6)、光电倍增管(7)、光 子计数卡(8)、计算机(9)，激光器(1)发出入射激光经透镜(2)聚焦后 照射到样品池(3)内的颗粒样品上，被激光束照射的颗粒产生的垂直与入 射激光方向的散射光依次通过双孔结构的针孔光阑(4、5)和滤光片(6) 后进入光电倍增管(7)，经过光电倍增管(7)转换成电信号输出进入光子 计数卡(8)进行计数，最后数据送入计算机(9)内处理。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
