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原文传递纳米颗粒检测装置及方法

专利名称：	纳米颗粒检测装置及方法
摘要：	本发明涉及一种检测装置及方法，尤其是一种纳米颗粒检测装置及方法，属于颗粒检测的技术领域。按照本发明提供的技术方案，所述纳米颗粒检测装置，包括能产生平面电磁波的电磁波发生器以及与所述电磁波发生器适配的透镜组；在所述电磁波发生器产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包括外球体以及位于所述外球体内的内球体，平面电磁波通过颗粒检测球体产生的纳米射流通过纳米颗粒时，通过透镜组能得到反向散射波，且根据所述反向散射波的强度实现对纳米颗粒的检测。本发明能有效提高纳米颗粒检测的精度，提高纳米颗粒检测的适应性以及适用范围，安全可靠。
专利类型：	发明专利
申请人：	江苏集萃深度感知技术研究所有限公司
发明人：	阿诺德·阿布拉莫夫;亚历山大·科斯蒂科夫;岳玉涛;王明明
专利状态：	有效
申请日期：	1900-01-20T20:00:00+0805
发布日期：	1900-01-20T10:00:00+0805
申请号：	CN201911322617.4
公开号：	CN110987731A
代理机构：	无锡永乐唯勤专利代理事务所(普通合伙)
代理人：	张涛
分类号：	G01N15/00;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/00
申请人地址：	214135 江苏省无锡市新吴区菱湖大道111号软件园天鹅座C座22层
主权项：	1.一种纳米颗粒检测装置，包括能产生平面电磁波的电磁波发生器(1)以及与所述电磁波发生器(1)适配的透镜组；其特征是：在所述电磁波发生器(1)产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包括外球体(3)以及位于所述外球体(3)内的内球体(4)，平面电磁波通过颗粒检测球体产生的纳米射流通过纳米颗粒(5)时，通过透镜组能得到反向散射波，且根据所述反向散射波的强度实现对纳米颗粒(5)的检测。 2.根据权利要求1所述的纳米颗粒检测装置，其特征是：所述内球体(4)在外球体(3)内呈非同心分布，且内球体(4)的中心、外球体(3)的中心在与平面电磁波传播方向平行的直线上。 3.根据权利要求1所述的纳米颗粒检测装置，其特征是：所述内球体(4)的介电常数为外球体(3)介电常数的一半。 4.一种纳米颗粒检测方法，其特征是：包括能产生平面电磁波的电磁波发生器(1)以及与所述电磁波发生器(1)适配的透镜组；在所述电磁波发生器(1)产生平面电磁波的传播方向上设置颗粒检测球体，所述颗粒检测球体包括外球体(3)以及位于所述外球体(3)内的内球体(4)，平面电磁波通过颗粒检测球体产生的纳米射流通过纳米颗粒(5)时，通过透镜组能得到反向散射波，且根据所述反向散射波的强度实现对纳米颗粒(5)的检测。 5.根据权利要求4所述的纳米颗粒检测方法，其特征是：所述内球体(4)在外球体(3)内呈非同心分布，且内球体(4)的中心、外球体(3)的中心在与平面电磁波传播方向平行的直线上。 6.根据权利要求4或5所述的纳米颗粒检测方法，其特征是：所述内球体(4)的介电常数为外球体(3)介电常数的一半。
所属类别：	发明专利