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原文传递纳米颗粒追踪装置

专利名称：	纳米颗粒追踪装置
摘要：	本公开涉及一种纳米颗粒追踪装置，包括：激光器，用于发射第一激光束；光学整形单元，用于将第一激光束整形成光强均匀分布的激光束，光学整形单元包括：扫描单元和会聚单元；扫描单元，用于调整第一激光束的方向得到第二激光束，将第二激光束反射到会聚单元；会聚单元，用于将第二激光束会聚为第三激光束，并出射到样品池；图像采集单元，用于采集样品池中纳米颗粒的图像；图像处理单元，与图像采集单元连接，用于分析图像以得到样品池中样品的参数。通过在激光器的出射光路上设置光学整形单元，光学整形单元能够将激光器发射的激光束整形成光强均匀的激光束，提高了纳米颗粒测量的准确度，降低了校准过程的复杂程度。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	北京世纪朝阳科技发展有限公司
发明人：	张达;王继军;江学舟
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810735538.5
公开号：	CN108844866A
代理机构：	北京林达刘知识产权代理事务所(普通合伙) 11277
代理人：	刘新宇
分类号：	G01N15/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/02
申请人地址：	100081 北京市海淀区北三环西路48号院1号楼A座6B
主权项：	1.一种纳米颗粒追踪装置，其特征在于，包括：激光器、光学整形单元、图像采集单元以及图像处理单元；激光器，用于发射第一激光束；光学整形单元，用于将第一激光束整形成光强均匀分布的激光束，光学整形单元包括：扫描单元和会聚单元；扫描单元，用于调整所述第一激光束的方向得到第二激光束，将所述第二激光束反射到所述会聚单元，所述第二激光束包括多条在空间上连续分布的、被反射的第一激光束；会聚单元，用于将所述第二激光束会聚为第三激光束，并出射到样品池，其中，所述第三激光束中的每条激光束互相平行；图像采集单元，用于采集样品池中纳米颗粒的图像；图像处理单元，与所述图像采集单元连接，用于分析所述图像以得到样品池中样品的参数；其中，所述扫描单元的主光轴与会聚单元的主光轴在同一直线上。
所属类别：	发明专利