专利名称: |
一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法 |
摘要: |
本申请实施例公开了一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法,包括:对页岩样品的断面进行镀碳处理;利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描,确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置;利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作,得到扫描图像;对所述扫描图像进行第一属性提取,分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度;对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘,对清绘后的扫描图像进行第一处理,根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。可以准确获得笔石体与围岩的有机质丰度和有机质孔隙特征情况。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国石油天然气股份有限公司 |
发明人: |
邱振;卢斌;周尚文;董大忠 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810014752.1 |
公开号: |
CN108318514A |
代理机构: |
北京三友知识产权代理有限公司 11127 |
代理人: |
李辉 |
分类号: |
G01N23/22(2018.01)I;G01N15/08(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N15;G01N1;G01N23/22;G01N15/08;G01N1/28 |
申请人地址: |
100007 北京市东城区东直门北大街9号 |
主权项: |
1.一种确定笔石体与围岩的属性信息的方法,其特征在于,包括:对页岩样品的断面进行镀碳处理;利用台式扫描电镜对所述页岩样品进行初步扫描,确定所述页岩样品中笔石体及围岩中的有机质分布位置;利用聚焦离子束扫描电镜对所述页岩样品的笔石体及围岩中的有机质分布位置处进行成像操作,得到扫描图像;对所述扫描图像进行第一属性提取,分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质丰度;对所述扫描图像中笔石体和围岩的孔隙进行清绘,对清绘后的扫描图像进行第一处理,根据第一处理结果分别计算所述扫描图像中笔石体与围岩的有机质孔隙的直径和面孔率。 |
所属类别: |
发明专利 |