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一种痕量目标物的聚集检测方法及超声聚集装置
| 专利名称： | 一种痕量目标物的聚集检测方法及超声聚集装置 |
| 摘要： | 本发明属于分析化学领域，具体涉及一种痕量目标物的聚集检测方法及超声聚集装置；所述痕量目标物的聚集检测方法是在超声条件下将DNA修饰的金纳米颗粒与待测痕量目标DNA分子结合，再改变超声频率以聚集金纳米颗粒，最终实现所述待测痕量目标DNA分子的痕量检测。所述痕量目标物的聚集检测方法具有响应时间短、检测效率高等优势，在实现快速精准分析和超痕量检测方面具有重要价值，为痕量标志物的超灵敏检测提供了一种高效可行的方案。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 北京科技大学 |
| 发明人： | 许太林;罗勇;张学记 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810552739.1 |
| 公开号： | CN108982200A |
| 代理机构： | 北京金智普华知识产权代理有限公司 11401 |
| 代理人： | 皋吉甫 |
| 分类号： | G01N1/40(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N1/40 |
| 申请人地址： | 100083 北京市海淀区学院路30号 |
| 主权项： | 1.一种痕量目标物的聚集检测方法，其特征在于，所述痕量目标物的聚集检测方法是在超声条件下将DNA修饰的金纳米颗粒与待测痕量目标DNA分子结合，再改变超声频率以聚集金纳米颗粒，最终实现所述待测痕量目标DNA分子的痕量检测。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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