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联吡啶钌体系电致化学发光法测定盐酸奈福泮的方法
| 专利名称： | 联吡啶钌体系电致化学发光法测定盐酸奈福泮的方法 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 广西;45 |
| 申请人： | 广西科技大学鹿山学院;广西科技大学 |
| 发明人： | 罗应;李彦青;李利军;程昊;孔红星;黄文艺;陈润贞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810757116.8 |
| 公开号： | CN109001289A |
| 代理机构： | 柳州市荣久专利商标事务所(普通合伙) 45113 |
| 代理人： | 韦微 |
| 分类号： | G01N27/48(2006.01)I;G01N21/76(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N27;G01N21;G01N27/48;G01N21/76 |
| 申请人地址： | 545616 广西壮族自治区柳州市鱼峰区新柳大道99号 |
| 主权项： | 1.一种联吡啶钌体系电致化学发光法测定盐酸奈福泮的方法，其特征在于：使用金电极为工作电极，以MPI‑E型电致化学发光工作站为试验平台，采用电致化学发光三电极系统，在扫描电压0.2 V~1.25 V、扫描速率0.1 V/s、光电倍增管负高压800 V~900 V、pH值6.0~7.5磷酸盐缓冲溶液为支持电解质条件下，由MPI‑E型电致化学发光工作站记录Ru(bpy)32+‑盐酸奈福泮发光强度，并于室温下采用循环伏安法对盐酸奈福泮进行定量测定，并依据盐酸奈福泮发光强度与浓度间的对应关系，绘制盐酸奈福泮发光强度与浓度的校正曲线，并通过线性回归分析，得出一定合理区间内的线性回归方程，同时利用校正曲线，对盐酸奈福泮进行含量测定。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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