专利名称: |
制备非导电性材料样品的方法 |
摘要: |
本发明提供一种制备非导电性材料样品的方法,在样品表面镀膜后,在待观测区域作相应的减薄,此时,镶嵌材料表面是镀有导电材料的,在材料表面形成一个有效的电子通路,即在样品台和镶嵌材料表面有导电通路,使得后面的入射电子不能在材料表面会聚,而影响信号的收集。本发明所使用的方法简单、快速、有效的解决了现有的非导电性材料在SEM/EBSD检测过程中而产生的电子积聚,或者由于导电镀膜过厚而影响到信号(如背反射电子)的收集问题。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
江苏;32 |
申请人: |
胜科纳米(苏州)有限公司 |
发明人: |
廖金枝;张兮;张南;华佑南;李晓旻 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810939776.8 |
公开号: |
CN109001240A |
代理机构: |
上海思微知识产权代理事务所(普通合伙) 31237 |
代理人: |
朱琳 |
分类号: |
G01N23/2202(2018.01)I;G01N23/203(2006.01)I;G01N23/2005(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/2202;G01N23/203;G01N23/2005 |
申请人地址: |
215123 江苏省苏州市工业园区金鸡湖大道99号苏州纳米城西北区09栋507室 |
主权项: |
1.一种制备非导电性材料样品的方法,其特征在于,包括以下步骤:步骤一:把非导电性材料镶嵌在透明镶嵌材料里;步骤二:把步骤一形成的样品进行表面镀膜,镀膜材料为金或铂或钯或碳或钨;步骤三:对步骤二形成的样品中待观测区域表面的镀膜材料减薄。 |
所属类别: |
发明专利 |