原文传递
凹印版辊表面缺陷智能检测的非缺陷排除方法及其装置
| 专利名称： | 凹印版辊表面缺陷智能检测的非缺陷排除方法及其装置 |
| 摘要： | 本发明提供一种凹印版辊表面缺陷智能检测的非缺陷排除方法及其装置，所述方法如下：对版辊的待检测表面进行擦拭，然后对该待检测表面进行第一次扫描，再次对版辊的待检测表面进行擦拭，然后对该待检测表面进行第二次扫描，计算两次扫描中疑似缺陷发生的位移值，并通过将位移值与设定的阈值进行对比，将位移值过大的疑似缺陷标记为非缺陷。本发明通过简单的办法，解决了现有技术中长期未能得到解决的技术问题，使得版辊检测能够实现自动化，提高了工作效率，降低了劳动强度。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 北京;11 |
| 申请人： | 中国印刷科学技术研究院有限公司 |
| 发明人： | 庞也驰;李志杰;叶壮志;赵鹏飞;穆明;鲁国成;虞朝阳;芮洁;来燕 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810948502.5 |
| 公开号： | CN108645869A |
| 代理机构： | 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139 |
| 代理人： | 孙皓晨;李林 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/88 |
| 申请人地址： | 100036 北京市海淀区翠微路2号院 |
| 主权项： | 1.一种凹印版辊表面缺陷智能检测的非缺陷排除方法，其特征是包括如下步骤：(1)对版辊的待检测表面进行擦拭，然后对该待检测表面进行第一次扫描，将扫描图像上的瑕疵部分视为疑似缺陷，并记录该疑似缺陷上的某特征点的原横坐标与原纵坐标；(2)再次对版辊的待检测表面进行擦拭，然后对该待检测表面进行第二次扫描，并再次采集待检测表面上的该疑似缺陷上的特征点的新横坐标与新纵坐标；(3)用新横坐标减去原横坐标并取绝对值，得到横坐标位移；用新纵坐标减去原纵坐标并取绝对值，得到纵坐标位移；(4)设定横坐标位移的第一阈值，并设定纵坐标位置的第二阈值；(5)若该疑似缺陷的横坐标位移大于或等于第一阈值，或者该疑似缺陷的纵坐标位移大于或等于第二阈值，则将该疑似缺陷标记为非缺陷；若该疑似缺陷的横坐标位移小于第一阈值，并且该疑似缺陷的纵坐标位移小于第二阈值，则将该疑似缺陷标记为真实缺陷。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
