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检测缺陷的装置及其检测缺陷的方法
| 专利名称： | 检测缺陷的装置及其检测缺陷的方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种检测缺陷的装置及其检测缺陷的方法，且更具体来说，涉及用于在不毁坏检验对象的条件下检测检验对象内的缺陷的一种检测缺陷的装置及其检测缺陷的方法。根据本发明实施例的一种检测缺陷的装置包括：第一探测单元，被配置成向检验对象中传送信号并接收在所述检验对象内产生的信号；第二探测单元，相对于所述第一探测单元单独地安装，且被配置成接收在所述检验对象内产生的所述信号；以及位置确定单元，被配置成利用由所述第一探测单元接收的所述信号及由所述第二探测单元接收的所述信号来检测所述检验对象内的缺陷位置。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 韩国;KR |
| 申请人： | 申东桓;申芮知;车承垠 |
| 发明人： | 申东桓;申芮知;车承垠 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请号： | CN201780003126.6 |
| 公开号： | CN109313164A |
| 代理机构： | 南京瑞弘专利商标事务所(普通合伙) 32249 |
| 代理人： | 梁天彦 |
| 分类号： | G01N29/24(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N29 |
| 申请人地址： | 韩国釜山釜山镇区白杨大路300便道20,207-2602 |
| 主权项： | 1.一种检测缺陷的装置，包括：第一探测单元，被配置成向检验对象中传送信号并接收在所述检验对象内产生的信号；第二探测单元，相对于所述第一探测单元单独地安装，且被配置成接收在所述检验对象内产生的所述信号；以及位置确定单元，被配置成利用由所述第一探测单元接收的所述信号及由所述第二探测单元接收的所述信号来检测所述检验对象内的缺陷位置。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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