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一种透射电镜块体样品已检测区域的定位方法
| 专利名称： | 一种透射电镜块体样品已检测区域的定位方法 |
| 摘要： | 一种透射电镜块体样品已检测区域的定位方法，通过对透射电镜块体样品薄区孔的记录，来测量透射电镜块体样品再检测时相对第一检测时的旋转角度，求出第二次检测时透射电镜块体样品坐标系相对第一次检测时样品坐标系的旋转矩阵，进而根据第一次检测时特征区域的样品台坐标X、Y、Z、α、β来计算第二次检测的新坐标，可快速找到这些特征区域，实现使用透射电镜对同一特征区域进行数据补充，也可用于确保样品在不同透射电镜下检测同一特征区域。本发明具有以下优点：不需要添加硬件设备，操作简单，易行；而且计算简单，易于编程实现，可作为透射电子显微镜精确分析的辅助工具。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 河北;13 |
| 申请人： | 燕山大学 |
| 发明人： | 闫志刚;郑春雷;林耀军 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810186946.X |
| 公开号： | CN108490011A |
| 代理机构： | 秦皇岛一诚知识产权事务所(普通合伙) 13116 |
| 代理人： | 刘建年 |
| 分类号： | G01N23/22(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/22 |
| 申请人地址： | 066004 河北省秦皇岛市海港区河北大街西段438号 |
| 主权项： | 1.一种透射电镜块体样品已检测区域的定位方法，其特征在于：具体包括以下步骤：步骤一、拍摄块体透射电镜样品薄区孔图像：第一次检测样品时，在低倍数下找到样品的薄区孔，将其放置到视场中心，调节放大倍数获取薄区孔的完整形状；步骤二、检测样品并记录特征区域坐标参数：检测样品时，对于每一特征区域的坐标参数进行记录X0、Y0、Z0、α0、β0；步骤三、分析第一次检测结果：系统分析第一次检测结果，查漏补缺，对于需要补充数据的特征区域，找出与之相应的坐标参数X0、Y0、Z0、α0、β0，并利用以下公式将坐标换算成样品杆没有倾转时的坐标(x，y)， |
| 所属类别： | 发明专利 |
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