专利名称: |
用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法及系统 |
摘要: |
本发明涉及一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法及系统,具体包括:整形出射激光,经柱透镜整形后的柱状激光垂直照射于样品水平放置平面;通过galvomirror(振镜)改变柱状激光照射于待检样品水平放置平面上的位置,采集光声信号,通过信号处理,可得到待检样品该位置处的光谱‑声功率谱联合图,通过差分光谱‑声功率谱联合图上能量归一后的声功率谱幅度,可以确定待检样品该位置处分子化学、微结构等信息进而进行边界检测定位,系统包括脉冲激光源、载玻片、针式水听器、放大器、示波器、柱透镜、galvomirror和电脑;本发明针对目前医疗设备只能从物理角度进行边界检测定位区分的问题,提出一种边界探测新方案,具有灵敏度高、穿透深度深的双重优点。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
同济大学 |
发明人: |
程茜;吴诗颖;陈盈娜;潘晶;封婷;张浩南;解维娅;张梦娇 |
专利状态: |
有效 |
申请日期: |
2019-04-01T00:00:00+0800 |
发布日期: |
2019-08-09T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201910257493.X |
公开号: |
CN110108652A |
代理机构: |
上海科盛知识产权代理有限公司 |
代理人: |
赵继明 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
申请人地址: |
200092 上海市杨浦区四平路1239号 |
主权项: |
1.一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法,其特征在于,包括以下步骤: 步骤1:利用脉冲激光经柱透镜和振镜照射待检样品的组织水平放置平面; 步骤2:采集待检样品产生的光声信号; 步骤3:对待检样品的水平放置平面不同位置处的光声信号进行信号处理,得出差分光谱-声功率谱联合图; 步骤4:根据获得的差分光谱-声功率谱联合图结果来对该待检样品内的特定区域边界进行划分定位。 2.根据权利要求1所述的一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法,其特征在于,所述柱透镜通过线聚焦方式模拟穿刺取样以实现一维扫描。 3.根据权利要求1所述的一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法,其特征在于,所述的步骤2包括以下分步骤: 步骤21:将待检样品选取一处作为基准位置处并采集对应的光声信号; 步骤22:通过所述振镜实时调整所述脉冲激光照射位置依次对待检样品的特定区域上所划分的每个小区域进行照射并采集相应的光声信号。 4.根据权利要求3所述的一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法,其特征在于,所述振镜通过在X轴和Y轴两个维度以改变所述柱状激光的聚焦位置,其精度为0.01mm。 5.根据权利要求1所述的一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法,其特征在于,所述的步骤3包括以下分步骤: 步骤31:利用MATLAB对待检样品的特定区域上所划分的每个小区域所采集的相应的光声信号进行信号处理,得出对应的光谱-声功率谱联合图; 步骤32:将得出的光谱-声功率谱联合图与所述基准位置处对应的经信号处理后的光谱-声功率谱联合图作差分处理,得出差分光谱-声功率谱联合图。 6.根据权利要求3所述的一种用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法,其特征在于,所述特定区域按照等间隔划分为多个小区域。 7.一种采用如权利要求1~6任意一项所述的用于复杂组分样品的特定区域边界检测定位方法的系统,其特征在于,该系统包括:脉冲激光源、载玻片、针式水听器、放大器、示波器、电脑、柱透镜和振镜,其中,所述柱透镜,用于对所述脉冲激光整形以实现在待检样品的水平放置平面上聚焦激光,所述振镜,用于实时调整柱状激光聚焦于待检样品的特定区域上所划分的每个小区域上的位置。 |
所属类别: |
发明专利 |