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原文传递 一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法
专利名称: 一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法
摘要: 本发明提供了一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的简便测定方法,具体步骤如下:(1)通过全二维气相色谱法分析含有数个(4个或4个以上)保留指数已知化合物的混合液,得到各个已知物质在该色谱条件下的二维保留时间以及流出温度数据;(2)将上述数据和标准品的保留指数数据代入本发明的提出的数学关系式,可得出所用色谱条件下第二维保留时间、第二维保留指数和流出温度的确切关系;(3)在相同色谱条件下分析待测的样品,获得待分析化合物的第二维保留时间和流出温度数据;(4)待分析物质的保留指数数据可通过数学关系式计算出来。与现有技术的方法相比,本发明提供的方法不需要反复多次的进样正构烷烃,方法简单易行。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 华中科技大学
发明人: 江明
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810671620.6
公开号: CN108490106A
代理机构: 华中科技大学专利中心 42201
代理人: 夏惠忠
分类号: G01N30/86(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N30;G01N30/86
申请人地址: 430074 湖北省武汉市洪山区珞喻路1037号
主权项: 1.一种全二维气相色谱法中第二维保留指数的测定方法,包括以下步骤:(1)测得4个或4个以上保留指数值已知的化合物在全二维气相色谱所用分析条件下的流出温度、第二维保留时间数据;(2)将步骤(1)所测得的流出温度、第二维保留时间数据和所述已知物质的第二维保留指数值,代入下述式1中,拟合常数a、b、c和d,即得到在步骤(1)所述的全二维气相色谱所用分析条件下的第二维保留时间、第二维保留指数和流出温度的确切关系式,log(log(2tR))=[a(2I/100)+b]In(2T)+[c(2I/100)+d]式1式1中,a、b、c和d为常数,2tR为第二维保留时间,2I为化合物的第二维保留指数;2T为化合物流出第二维色谱柱时的柱温,即流出温度;(3)由下列方法A或方法B计算出待分析化合物的二维保留数:方法A:在与步骤(1)相同的全二维气相色谱所用分析条件下,分析待测的样品,获得待分析化合物的第二维保留时间和流出温度数据,代入步骤(2)中已经确定常数a、b、c、d后的式1,计算得出待分析化合物的第二维保留指数;方法B:将正构烷烃的保留指数标准值代入步骤(2)中已经确定常数a、b、c、d后的式1,计算出正构烷烃在不同流出温度下的第二维保留时间,从而求出在与步骤(1)相同的全二维气相色谱所用分析条件下的保留指数地图,即等挥发曲线,再将待分析物质的第二维保留时间和流出温度数据填入所述的保留指数地图,根据科瓦茨(Kováts)保留指数计算公式计算待分析物质的第二维保留指数。
所属类别: 发明专利
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