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原文传递 一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法
专利名称: 一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法
摘要: 本发明公开了一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法,将岩体劈裂获得多个不规则的结构面,用混凝土将劈裂后的岩体包裹固定为一体,对固定在混凝土内的岩体沿铅直方向钻孔取岩芯,对取出的岩芯进行处理,即得到含粗糙结构面的圆柱体试样。本发明方法简单,高效,实用效果好,具有广泛的应用性;能有效避免岩体形成起伏过大粗糙结构面,能有效应用于三轴压缩试验的试件尺寸;避免节理岩体在取芯过程中因钻具扰动导致结构面张开等情况,为节理岩体的力学试验提供了技术支持。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 中国地质大学(武汉)
发明人: 唐志成;焦玉勇;邹俊鹏
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810469996.9
公开号: CN108680381A
代理机构: 武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238
代理人: 郝明琴
分类号: G01N1/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N1/08
申请人地址: 430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号
主权项: 1.一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法,其特征在于,将岩体劈裂获得多个不规则的结构面,用混凝土将劈裂后的岩体包裹固定为一体,对固定在混凝土内的岩体沿铅直方向钻孔取岩芯,对取出的岩芯进行处理,即得到含粗糙结构面的圆柱体试样。
所属类别: 发明专利
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