专利名称: |
一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法 |
摘要: |
本发明公开了一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法,将岩体劈裂获得多个不规则的结构面,用混凝土将劈裂后的岩体包裹固定为一体,对固定在混凝土内的岩体沿铅直方向钻孔取岩芯,对取出的岩芯进行处理,即得到含粗糙结构面的圆柱体试样。本发明方法简单,高效,实用效果好,具有广泛的应用性;能有效避免岩体形成起伏过大粗糙结构面,能有效应用于三轴压缩试验的试件尺寸;避免节理岩体在取芯过程中因钻具扰动导致结构面张开等情况,为节理岩体的力学试验提供了技术支持。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
湖北;42 |
申请人: |
中国地质大学(武汉) |
发明人: |
唐志成;焦玉勇;邹俊鹏 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810469996.9 |
公开号: |
CN108680381A |
代理机构: |
武汉知产时代知识产权代理有限公司 42238 |
代理人: |
郝明琴 |
分类号: |
G01N1/08(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N1;G01N1/08 |
申请人地址: |
430000 湖北省武汉市洪山区鲁磨路388号 |
主权项: |
1.一种含粗糙结构面的圆柱体试样取样方法,其特征在于,将岩体劈裂获得多个不规则的结构面,用混凝土将劈裂后的岩体包裹固定为一体,对固定在混凝土内的岩体沿铅直方向钻孔取岩芯,对取出的岩芯进行处理,即得到含粗糙结构面的圆柱体试样。 |
所属类别: |
发明专利 |