专利名称: |
一种光学膜缺陷检测设备 |
摘要: |
本实用新型公开一种光学膜缺陷检测设备,包括检测平台、第一导轨、光学膜载具、光源、检测相机和取料装置,所述检测平台上设有第一导轨和光源,所述光学膜载具活动安装在第一导轨上,所述光学膜载具上设有横向调节机构和纵向调节机构,所述检测相机安装在机架上,所述检测相机包括缺陷检测相机和翘曲检测相机,所述检测平台的一侧设有取料装置,所述取料装置的两端分别设有上料机械臂和下料机械臂,所述上料机械臂和下料机械臂上均安装有机械手,所述机械手与光学膜载具相配合,可以代替人工进行光学膜产品的全自动化生产作业,而且可以实现光学膜产品的缺陷检测及翘曲检测,不仅可以提高光学膜产品的检测效率,而且设备的检测结果的可靠性大。 |
专利类型: |
实用新型 |
国家地区组织代码: |
浙江;33 |
申请人: |
嵊州市东浩电子科技有限公司 |
发明人: |
卢彭飞 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201820184982.8 |
公开号: |
CN207992081U |
代理机构: |
北京天奇智新知识产权代理有限公司 11340 |
代理人: |
韩洪 |
分类号: |
G01N21/95(2006.01)I;B07C5/34(2006.01)I;G;B;G01;B07;G01N;B07C;G01N21;B07C5;G01N21/95;B07C5/34 |
申请人地址: |
312400 浙江省绍兴市嵊州市黄泽镇双龙路5号 |
主权项: |
1.一种光学膜缺陷检测设备,其特征在于:包括检测平台(1)、第一导轨(2)、光学膜载具(3)、光源(4)、检测相机(5)和取料装置(6),所述检测平台(1)上设有第一导轨(2)和光源(4),所述光学膜载具(3)活动安装在第一导轨(2)上,所述光学膜载具(3)上设有横向调节机构(35)和纵向调节机构(34),所述检测相机(5)安装在机架(50)上,所述检测相机(5)包括缺陷检测相机(51)和翘曲检测相机(52),所述检测平台(1)的一侧设有取料装置(6),所述取料装置(6)的两端分别设有上料机械臂(62)和下料机械臂(63),所述上料机械臂(62)和下料机械臂(63)上均安装有机械手(64),所述机械手(64)与光学膜载具(3)相配合。 |
所属类别: |
实用新型 |