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用于光学检测圆线材表面缺陷的设备和方法
| 专利名称： | 用于光学检测圆线材表面缺陷的设备和方法 |
| 摘要： | 一种设备和方法可光学检测待测试圆线材的缺陷，尤其是实时且不接触地远程检测缺陷。该设备包括：照明设备，其用于向该圆线材发射圆表面光；光学传感器，其用于通过接收自正被输送的该圆线材反射的光来生成光学信号，并用于将该光学信号转换为图像信号；以及信号处理单元，其用于通过从所述光学传感器接收图像信号来获得该圆线材的表面信息。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 申请人： | POSCO公司 |
| 发明人： | 崔世镐;裴浩文;黄化原;朴昌铉 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2008-08-28T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN200880108143.7 |
| 公开号： | CN101952712A |
| 代理机构： | 北京北翔知识产权代理有限公司 11285 |
| 代理人： | 郑建晖;杨勇 |
| 分类号： | G01N21/88(2006.01)I |
| 申请人地址： | 韩国庆尚北道 |
| 主权项： | 一种用于光学检测圆线材的缺陷的设备，包括：照明设备，其用于向该圆线材发射圆表面光；光学传感器，其用于通过接收由所述照明设备发射并由正被输送的所述圆线材反射的光而生成光学信号，并用于将该光学信号转换为图像信号；以及信号处理单元，其用于通过从所述光学传感器接收图像信号来获得该圆线材的表面信息。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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