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原文传递 利用多种拟合方式衔接标准曲线的待测物测定方法
专利名称: 利用多种拟合方式衔接标准曲线的待测物测定方法
摘要: 本发明公开了一种利用多种拟合方式衔接标准曲线的待测物测定方法,包括以下步骤:S1:选择n个包含待测物的标准样品A1~An;S2:对标准样品A1~An,使用对数拟合方法获取待测物的第一标准工作曲线;S3:对标准样品A1~An,使用多项式拟合方法获取待测物的第二标准工作曲线,该第二标准工作曲线的横坐标和纵坐标分别对应待测物浓度和光谱强度;S4:设定一待测物浓度转换值C;S5:生成待测物的“待测物浓度‑光谱强度”曲线L;S6:对于待测样品,按照步骤S2、步骤S3中对标准样品相同的处理步骤获取其中的待测物对应的光谱强度S;S7:从曲线L中读取光谱强度为S时对应的待测物浓度,并据此计算出待测物于待测样品中的含量。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 北京;11
申请人: 北京北分瑞利分析仪器(集团)有限责任公司
发明人: 吴冬梅;赵燕秋;付国余
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201810752368.1
公开号: CN108680523A
代理机构: 北京科龙寰宇知识产权代理有限责任公司 11139
代理人: 孙皓晨;侯奇慧
分类号: G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/31
申请人地址: 100094 北京市海淀区北清路160号
主权项: 1.一种利用多种拟合方式衔接标准曲线的待测物测定方法,该方法用于测定一待测物于一待测样品中的含量,其特征在于,包括以下步骤:S1:选择n个包含待测物的标准样品A1~An,其中,标准样品A1~An中待测物的浓度依次递增;S2:对标准样品A1~An,使用对数拟合方法获取待测物的第一标准工作曲线,该第一标准工作曲线的横坐标和纵坐标分别对应待测物浓度和光谱强度;S3:对标准样品A1~An,使用多项式拟合方法获取待测物的第二标准工作曲线,该第二标准工作曲线的横坐标和纵坐标分别对应待测物浓度和光谱强度;S4:设定一待测物浓度转换值C;S5:生成待测物的“待测物浓度‑光谱强度”曲线L,其中,当待测物浓度≤C时,曲线L与所述第一标准工作曲线重合,当待测物浓度>C时,曲线L与所述第二标准工作曲线重合;S6:对于待测样品,按照步骤S2、步骤S3中对标准样品相同的处理步骤获取其中的待测物对应的光谱强度S;S7:从曲线L中读取光谱强度为S时对应的待测物浓度,并据此计算出待测物于待测样品中的含量。
所属类别: 发明专利
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