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产生源分析装置以及产生源分析系统
| 专利名称： | 产生源分析装置以及产生源分析系统 |
| 摘要： | 本发明提供一种能高精度地分析与产生源有关的信息的分析装置。提供一种产生源分析装置，包括：对多个测定对象成分各自的浓度获取测定地点处的时间序列的测定值的测定值获取部；对于至少一组测定对象成分计算时间序列的测定值的相关值的相关计算部；以及基于相关计算部算出的相关值来对与至少一个测定对象成分的产生源有关的信息进行分析的产生源分析部。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 日本;JP |
| 申请人： | 富士电机株式会社 |
| 发明人： | 武田直希;李波;长谷川祥树;小泉和裕;川村雄 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810117262.4 |
| 公开号： | CN108693084A |
| 代理机构： | 上海专利商标事务所有限公司 31100 |
| 代理人： | 张鑫;俞丹 |
| 分类号： | G01N15/06(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N15;G01N15/06 |
| 申请人地址： | 日本神奈川县 |
| 主权项： | 1.一种产生源分析装置，其特征在于，包括：测定值获取部，该测定值获取部针对多个测定对象成分各自的浓度获取测定地点处的时间序列的测定值；相关计算部，该相关计算部针对至少一组测定对象成分计算时间序列的测定值的相关值；以及产生源分析部，该产生源分析部基于所述相关计算部计算出的相关值对与至少一个测定对象成分的产生源有关的信息进行分析。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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