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基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法
| 专利名称： | 基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法，该方法如下：建立原子荧光元素特征谱线库；利用色散原子荧光检测系统对含有杂质的待测元素的荧光信号进行采集并生成谱图；利用色散原子荧光检测系统对杂质元素的荧光信号进行采集并生成谱图；根据含有杂质的待测元素荧光信号中杂质元素谱峰的强度及杂质元素的荧光信号谱图，计算干扰系数；利用非色散原子荧光检测系统，对元素进行多通道检测；根据多通道检测得到的含有杂质的待测元素及杂质元素的荧光强度和计算得到的干扰系数，便可对光源杂质干扰进行校正。本发明能够对检测过程中的光源杂质干扰进行有效地识别和扣除，提高了原子荧光光谱仪定量检测结果的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 吉林;22 |
| 申请人： | 吉林大学 |
| 发明人： | 田地;张雅茹;陶琛;李春生;王宏霞 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810477122.8 |
| 公开号： | CN108693155A |
| 代理机构： | 长春吉大专利代理有限责任公司 22201 |
| 代理人： | 王淑秋 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
| 申请人地址： | 130012 吉林省长春市前进大街2699号 |
| 主权项： | 1.一种基于DMD的原子荧光多通道检测光源杂质干扰校正方法，其特征在于包括下述步骤：步骤一：建立原子荧光元素特征谱线库；利用基于数字微镜阵列全谱原子荧光光谱仪的色散荧光检测系统对N种元素的标准溶液进行测试，得到N种元素的实测荧光谱线值；将N种元素的实测荧光谱线值与理论荧光谱线值比对，得到N种元素的标准荧光特征谱线并将其存入原子荧光元素特征谱线库；步骤二：设要进行多通道检测的元素有n个，其中包括待测元素及待测元素的空心阴极灯含有的m个杂质元素，m＝n‑1；用待测元素的空心阴极灯照射待测样品，应用基于数字微镜阵列全谱原子荧光光谱仪的色散荧光检测系统对荧光信号进行采集并对生成的谱图进行扣背景处理，得到包含待测元素及m个杂质元素荧光谱线的原子荧光谱图；步骤三：分别用m个杂质元素的空心阴极灯轮流照射待测样品，应用基于数字微镜阵列全谱原子荧光光谱仪的色散荧光检测系统对荧光信号进行采集并对生成的谱图进行扣背景处理；得到m个杂质元素对应的原子荧光谱图，其中每个原子荧光谱图仅包含一种杂质元素荧光谱线；步骤四：对步骤二中得到的原子荧光谱图进行谱峰识别，将识别出的谱峰与存储在原子荧光元素特征谱线库中各个元素的标准荧光特征谱线进行对比，找出属于待测元素和属于各个杂质元素的谱峰；针对属于任意一个杂质元素的谱峰的荧光强度求总和得到该杂质元素的总荧光强度，由此得到m个杂质元素的总荧光强度 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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