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一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法
| 专利名称： | 一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法 |
| 摘要： | 本发明属于光谱分析技术领域,具体涉及一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法，该方法包括：确定待测元素可激发较强非共振荧光线的光源特征谱线；根据确定的光源特征谱线选用中心波长对应的窄带通滤光片,放置在原子化器前，保证激发光源中只有窄带滤光片带通范围内波长可透过，并经原子化器生成相应的共振荧光及非共振荧光；控制数字微镜进行全谱测量，确认参加检测的非共振荧光线信息在数字微镜上对应像元的范围；按范围测量所有非共振荧光强度并求和得到待测元素的荧光强度值。能有效避免光源散射干扰，提高待测元素定量检测结果的准确性。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 吉林;22 |
| 申请人： | 吉林大学 |
| 发明人： | 田地;王宏霞;刘可;李春生 |
| 专利状态： | 有效 |
| 申请日期： | 2019-08-14T00:00:00+0800 |
| 发布日期： | 2019-11-15T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201910747707.1 |
| 公开号： | CN110455760A |
| 代理机构： | 沈阳铭扬联创知识产权代理事务所(普通合伙) |
| 代理人： | 屈芳 |
| 分类号： | G01N21/64(2006.01);G;G01;G01N;G01N21 |
| 申请人地址： | 130012吉林省长春市朝阳区前进大街2699号 |
| 主权项： | 1.一种基于DMD的色散型AFS光源散射干扰扣除方法，其特征在于，该方法包括： 步骤1、确定待测元素可激发较强非共振荧光线的光源特征谱线； 步骤2、根据确定的光源特征谱线选用中心波长对应的窄带通滤光片,放置在原子化器前，保证激发光源中只有窄带滤光片带通范围内波长可透过，并经原子化器生成相应的共振荧光及非共振荧光； 步骤3、控制数字微镜进行全谱测量，确认参加检测的非共振荧光线信息在数字微镜上对应像元的范围； 步骤4、按范围测量所有非共振荧光强度并求和得到待测元素的荧光强度值。 2.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，采用窄带通滤光片,设滤光片的中心波长为λ，通带宽度为W，则通带范围为使得待测样品中某元素透过滤光片的光源特征谱线为内所有谱线。 3.按照权利要求1所述的方法，其特征在于，步骤3具体包括：检测原子荧光波长范围内所有可检测谱线，通带范围内的所有谱线均不作为有效信号，记录通带范围外的m条非共振线λ1'，λ2'，...，λm'，并确认其在数字微镜上对应的位置范围R1，R2，...，Rm。 4.按照权利要求3所述的方法，其特征在于，步骤4包括：控制数字微镜按范围R1，R2，...，Rm分别测量λ的非共振线λ1'，λ2'，...，λm'处的荧光强度值，并将所有荧光强度值求和得待测样品中元素的荧光强度值IFA。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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