专利名称: |
一种比率型荧光检测方法及应用 |
摘要: |
本发明属于纳米成像探针应用技术领域,公开了一种比率型荧光检测方法及应用。本发明所提供的比率型荧光检测方法包括:将纳米探针加入到待测样本中,在同一束激发光的激发下,纳米探针中的两种荧光团分别发射波长相同的长寿命荧光信号和短寿命荧光信号;使用时间门荧光探测装置,关闭时间门功能,收集所述长寿命荧光信号和短寿命荧光信号的总强度;开启时间门功能,收集所述长寿命荧光信号的强度;以所述长寿命荧光信号强度与所述长寿命荧光信号、短寿命荧光信号总强度的比率值表征待测样本中待测物的浓度。利用本发明的方法检测可获得高准确度的原位比度信号,显著提高荧光检测的准确性,特别适用于活体检测中。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
上海;31 |
申请人: |
复旦大学 |
发明人: |
李富友;程胜名;冯玮 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810953396.X |
公开号: |
CN109060746A |
代理机构: |
上海晨皓知识产权代理事务所(普通合伙) 31260 |
代理人: |
成丽杰 |
分类号: |
G01N21/64(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/64 |
申请人地址: |
200433 上海市杨浦区邯郸路220号 |
主权项: |
1.一种比率型荧光检测方法,其特征在于,包括如下步骤:(1)将纳米探针加入到待测样本中,所述纳米探针包含两种荧光团;(2)在同一束激发光的激发下,所述两种荧光团分别发射波长相同的长寿命荧光信号和短寿命荧光信号;(3)使用时间门荧光探测装置,关闭时间门功能,收集所述长寿命荧光信号和短寿命荧光信号的总强度;开启时间门功能,收集所述长寿命荧光信号的强度;(4)以所述长寿命荧光信号强度与所述长寿命荧光信号、短寿命荧光信号总强度的比率值表征待测样本中待测物的浓度。 |
所属类别: |
发明专利 |