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T形结构成形件中缺陷的空间定位方法
| 专利名称： | T形结构成形件中缺陷的空间定位方法 |
| 摘要： | 本发明属于零部件缺陷定位技术领域，具体涉及一种T形结构成形件中缺陷的空间定位方法，通过对T形结构成形件进行左右旋转45°，获得该T形结构成形件左右旋转的X射线检测图像，选用X射线穿透T形结构成形件直角角平分线(面)为定位特征点；借助两幅X射线检测图像各部分之间的几何关系建立通用的缺陷深度和偏移量计算的数学模型；其中，缺陷深度的数学模型为 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 徐州工程学院 |
| 发明人： | 石端虎;沙静;赵洪枫;吴三孩;杨峰;何敏;王晓溪 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810889872.6 |
| 公开号： | CN109060845A |
| 代理机构： | 徐州市三联专利事务所 32220 |
| 代理人： | 何君 |
| 分类号： | G01N23/04(2018.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/04 |
| 申请人地址： | 221000 江苏省徐州市泉山区南三环路18号徐州工程学院大学科技园（徐州市2.5产业园） |
| 主权项： | 1.一种T形结构成形件中缺陷的空间定位方法，其特征在于，包括以下步骤：1)对T形结构成形件进行左右旋转，旋转角度均为45°，并获得该T形结构成形件左右旋转的X射线检测图像；2)选用X射线穿透T形结构成形件直角角平分线(面)为定位特征点；3)借助两幅X射线检测图像各部分之间的几何关系建立通用的缺陷深度和偏移量计算的数学模型；其中，缺陷深度的数学模型如下： |
| 所属类别： | 发明专利 |
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