专利名称: |
一种石英玻璃中羟基含量的无损检测方法 |
摘要: |
本发明是关于一种石英玻璃中羟基含量的无损检测方法,包括:获取石英玻璃中羟基在1.38μm、2.22μm和/或2.73μm处的消光系数ε1.38μm、ε2.22μm和/或ε2.73μm;根据第一公式,计算,得到待测石英玻璃中的羟基含量,其中,所述的第一公式为, 本发明提供的石英玻璃中羟基含量的无损检测方法,拓宽了对石英玻璃检测样品的厚度限制,使某些产品不需要破坏样品取样就可以测定其羟基含量,该方法在实现无损检测的同时,大大提高了检测效率。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
中国建筑材料科学研究总院有限公司 |
发明人: |
王蕾;向在奎;聂兰舰;王宏杰;贾亚男;杜秀蓉 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201810946298.3 |
公开号: |
CN109060687A |
代理机构: |
北京鼎佳达知识产权代理事务所(普通合伙) 11348 |
代理人: |
王伟锋;刘铁生 |
分类号: |
G01N21/31(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/31 |
申请人地址: |
100024 北京市朝阳区管庄东里1号 |
主权项: |
1.一种石英玻璃中羟基含量的无损检测方法,其特征在于,包括:获取石英玻璃中羟基在1.38μm、2.22μm和/或2.73μm处的消光系数ε1.38μm、ε2.22μm和/或ε2.73μm;根据第一公式,计算,得到待测石英玻璃中的羟基含量,其中,所述的第一公式为, 式中,C为待测石英玻璃的羟基含量,ε为石英玻璃中羟基在1.38μm、2.22μm、2.73μm处的消光系数ε1.38μm、ε2.22μm、ε2.73μm,d为待测石英玻璃的厚度,M为羟基的摩尔质量,ρ为石英玻璃的密度,T0为待测石英玻璃中羟基在1.38μm、2.22μm、2.73μm处的基线光谱透过率T0,1.38μm、T0,2.22μm、T0,2.73μm,T为待测石英玻璃中羟基在1.38μm、2.22μm、2.73μm处的吸收峰光谱透过率T1.38μm、T2.22μm、T2.73μm。 |
所属类别: |
发明专利 |