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原文传递 基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备
专利名称: 基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备
摘要: 本实用新型涉及基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,可实现对平面零件表面瑕疵和关键几何尺寸的快速检测和测量。它包括辊轮输送装置和暗箱,辊轮输送装置穿过暗箱设置;所述暗箱内设有暗场检测单元和明场检测单元;所述暗场检测单元位于所述辊轮输送装置的上方,与所述辊轮输送装置的距离可调;所述明场检测单元包括线状照明装置和光学成像装置,所述光学成像装置由设于检测区域上方的线阵相机与光学透镜构成;所述辊轮输送装置的起始处设有自动纠偏机构;所述自动纠偏机构包括纠偏挡片和拨杆;所述纠偏挡片固定设置;所述拨杆固定在拨杆座上,拨杆座通过弹簧铰链与移动滑块联接,移动滑块由电机通过传动螺杆驱动可做往复运动。
专利类型: 实用新型
国家地区组织代码: 浙江;33
申请人: 杭州智谷精工有限公司
发明人: 袁巨龙
专利状态: 有效
发布日期: 2019-01-01T00:00:00+0800
申请号: CN201820710531.3
公开号: CN208283303U
代理机构: 北京中济纬天专利代理有限公司 11429
代理人: 陈振华
分类号: G01N21/956(2006.01)I;G01N21/958(2006.01)I;G01N21/88(2006.01)I;G01N21/01(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/956;G01N21/958;G01N21/88;G01N21/01
申请人地址: 311121 浙江省杭州市余杭区余杭街道文一西路1818-2号5幢206室
主权项: 1.基于暗场扫描和机器视觉的光学双场平面体快速检测设备,其特征在于:包括辊轮输送装置(1)和暗箱(2),辊轮输送装置(1)穿过暗箱(2)设置;所述暗箱(2)内设有暗场检测单元和明场检测单元;所述暗场检测单元位于所述辊轮输送装置(1)的上方,与所述辊轮输送装置(1)的距离可调;所述明场检测单元包括线状照明装置(3)和光学成像装置(4),所述光学成像装置(4)由设于检测区域上方的线阵相机(41)与光学透镜(42)构成;所述辊轮输送装置(1)的起始处设有自动纠偏机构(5);所述自动纠偏机构(5)包括纠偏挡片(51)和拨杆(52);所述纠偏挡片(51)固定设置;所述拨杆(52)固定在拨杆座(53)上,拨杆座(53)通过弹簧铰链(54)与移动滑块(55)联接,移动滑块(55)由电机(56)通过传动螺杆(57)驱动可做往复运动。
所属类别: 实用新型
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