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原文传递一种测量绝缘子污秽度的方法

专利名称：	一种测量绝缘子污秽度的方法
摘要：	本申请提供了一种测量绝缘子污秽度的方法，本发明采取差值计算法获得等值盐密和灰密数值，与传统方式相比，测量过程中不需清洗取样布，不需过滤污液，不需对过滤污秽进行干燥称重，测量过程更加方便快捷，测量结果更加准确可靠，适宜进行大规模污秽测量试验。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	山东;37
申请人：	国网山东省电力公司电力科学研究院;国家电网公司
发明人：	周超;刘辉;刘申;秦佳峰;李盈;王震;沈庆河;胡晓黎;张洋;贾然;段玉兵;张皓;马国庆;刘传彬;李龙龙;刘洋;孙景文;李娜;王华佳
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810402042.6
公开号：	CN108732060A
代理机构：	济南诚智商标专利事务所有限公司 37105
代理人：	杨先凯
分类号：	G01N5/02(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N5;G01N5/02
申请人地址：	250002 山东省济南市市中区望岳路2000号
主权项：	1.一种测量绝缘子污秽度的方法，其特征在于，包括以下步骤：1)首先准备取样布，然后将干燥洁净的取样布烘干称重，记录取样布的质量m1；2)用准备好的取样布擦拭绝缘子表面污秽，绝缘子要擦拭干净，确保污秽在绝缘子表面无残留；3)将带有污秽的取样布依次进行烘干与称重，记录带有污秽的取样布烘干后的质量m2；4)将步骤3)称重后带有污秽的取样布浸泡在盛有定量蒸馏水的烧杯中，使取样布上的污秽物溶于水，然后测量溶解于水中的污秽物的等值盐密ESDD；5)利用绝缘子的表面积S、m1以及m2，计算获得绝缘子的灰密NSDD＝(m2‑m1)/S‑ESDD。
所属类别：	发明专利