原文传递
用X射线检测在结构柱中的质量检测方法
| 专利名称： | 用X射线检测在结构柱中的质量检测方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种用X射线检测在结构柱中的质量检测方法，应用在建筑的质量检测领域，解决了检测效率低的技术问题，其技术方案要点是一种用X射线检测在结构柱中的质量检测方法，它包括以下步骤：在结构柱上定位切割点，切割点与结构柱两个外侧壁的距离均小于或等于300mm，以切割点为中心打竖向缝槽，将结构柱分为两个检测单元；在竖向缝槽内插入X射线摄影成像系统平板；取数码式X射线仪，朝向X射线摄影成像系统平板照射X光线，将数码式X射线仪的X射线发射源与其中一个检测单元的外侧壁贴合；数码式X射线仪与上位机连接。具有的技术效果是该方法采用数码式X射线仪进行成像，成像像素高、测试结果更准确、效率较高。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 江苏;32 |
| 申请人： | 江苏方建质量鉴定检测有限公司 |
| 发明人： | 唐国才;吴尧 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810615753.1 |
| 公开号： | CN109085187A |
| 代理机构： | 北京维正专利代理有限公司 11508 |
| 代理人： | 杨春女 |
| 分类号： | G01N23/00(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N23/00 |
| 申请人地址： | 211100 江苏省南京市江宁经济技术开发区水长街19号 |
| 主权项： | 1.一种用X射线检测在结构柱中的质量检测方法，其特征在于，它包括以下步骤：A、 在结构柱(1)上定位切割点，切割点与结构柱(1)两个外侧壁的距离均小于或等于300mm，以切割点为中心打竖向缝槽(11)，将结构柱(1)分为两个检测单元；B、 在竖向缝槽(11)内插入X射线摄影成像系统平板；C、 取数码式X射线仪(2)，朝向X射线摄影成像系统平板照射X光线，将数码式X射线仪(2)的X射线发射源与其中一个检测单元的外侧壁贴合；数码式X射线仪(2)与上位机连接。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
检索历史
应用推荐
