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原文传递透照构件的X射线检测方法

专利名称：	透照构件的X射线检测方法
摘要：	本发明涉及一种透照构件的X射线检测方法，包括以下步骤：确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果，可以使得待检测区域通过一次透照即可查出各部位的缺陷，另外，即使单个待检测构件存在多种厚度，也不必采用多种工艺，有助于简化无损检测的过程，节约时间和材料成本，提高工作效率。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	浙江;33
申请人：	宁波至信检测技术有限公司
发明人：	戚克鹏;任欣
专利状态：	有效
申请日期：	2017-11-22T00:00:00+0800
发布日期：	2019-05-31T00:00:00+0800
申请号：	CN201711174690.2
公开号：	CN109827977A
代理机构：	杭州华进联浙知识产权代理有限公司
代理人：	李丽华
分类号：	G01N23/04(2018.01);G;G01;G01N;G01N23
申请人地址：	315135 浙江省宁波市鄞州区云龙镇云振路255号
主权项：	1.一种透照构件的X射线检测方法，其特征在于，包括以下步骤：确定待检测构件中每个待检测区域的最小厚度和最大厚度；将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统；根据待检测区域的厚度范围和所述胶片系统确定透照射线检测工艺；根据所述透照射线检测工艺对所述待检测构件中待检测区域进行检测；将所述至少两张胶片冲洗晾干，并观察所述至少两张胶片上显示的影像，分析检测结果。 2.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，在确定待检测区域的最小厚度和最大厚度之前，按照所述待检测构件的厚度差和曲率，将所述待检测构件划分为多个待检测区域，并为每个待检测区域进行编号。 3.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统，包括：将至少两张感光度相同的胶片封装在暗盒中形成胶片系统。 4.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述将至少两张胶片封装在暗盒中形成胶片系统，包括：将至少两张感光度互异的胶片封装在暗盒中形成胶片系统。 5.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，还包括：在所述胶片系统加入增感屏。 6.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述根据待检测区域的厚度范围和胶片系统确定透照射线检测工艺，包括：确定射线检测的检测设备及工艺参数。 7.根据权利要求6所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述确定透线检测的检测设备及工艺参数，包括：确定所述X射线的入射方向。 8.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述胶片的黑度为2.0～4.0。 9.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，所述根据待检测区域的厚度范围和胶片类型确定透照射线检测工艺，包括：在非检测区域设置可屏蔽所述X射线的屏蔽板。 10.根据权利要求1所述的透照构件的X射线检测方法，其特征在于，还包括：在发射所述X射线的射线机窗口设置光阑。
所属类别：	发明专利