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一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法
| 专利名称： | 一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法 |
| 摘要： | 本发明涉及一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法，主要包括以下几个步骤：首先对采集到的PCB板图像进行预处理，实现二值化；然后对板子进行倾斜校正，并利用投影法对其进行单元分割；最后，统计无缺陷模板中单元块的连通域数量Num及面积，并将各连通域面积按由大到小排列，记作Area，将连通域数量Num和面积序列Area作为特征，再统计待检测图像中各个单元块的相应参数，将其逐个与模板的标准参数比对，判断是否有缺陷及缺陷类型。实验表明，该发明对于由多个重复单元组成的PCB裸板上的短路及开路等缺陷具有很好的检测效果，检测精度高、速度快，成本低，具有很好的实际应用价值。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 湖北;42 |
| 申请人： | 武汉科技大学 |
| 发明人： | 伍世虔;陈彬;李鑫;鲁阳 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810667818.7 |
| 公开号： | CN109100370A |
| 代理机构： | 武汉科皓知识产权代理事务所(特殊普通合伙) 42222 |
| 代理人： | 王琪 |
| 分类号： | G01N21/956(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/956 |
| 申请人地址： | 430081 湖北省武汉市青山区和平大道947号 |
| 主权项： | 1.一种基于投影法和连通域分析的PCB板缺陷检测方法，其特征在于，包括如下步骤：步骤1，采集待检测PCB板灰度图像，并对其进行预处理；步骤2，利用投影法对预处理后的图像进行单元分割，即将PCB板上重复的单元块独立分割开；步骤3，缺陷检测，统计无缺陷模板中单元块的连通域数量Num及面积，并将各连通域面积按由大到小排列，记作序列Area，将连通域数量Num和面积序列Area作为特征，再统计待检测图像中各个单元块的相应参数，将其逐个与模板的标准参数比对，判断是否有缺陷及缺陷类型。 |
| 所属类别： | 发明专利 |
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