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基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法
| 专利名称： | 基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法 |
| 摘要： | 本发明公开了一种基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法，应用于大圆机上织布的瑕疵定位。所述大圆机包括计圈传感器、圈数感应端及相机；所述大圆机的转速波动不大于阈值σ，所述计圈传感器固定在所述大圆机的机架上，所述圈数感应端随布面转动，所述相机的视口指向布面，所述布面上具有初始固定特征。通过布面的初始固定特征及计圈信号，计算移动每个分辨率所耗费的时间或计算每秒移动的分辨率，即可计算出瑕疵在布面上的位置，实现快捷有效的定位。 |
| 专利类型： | 发明专利 |
| 国家地区组织代码： | 福建;35 |
| 申请人： | 福建省国业科技发展有限公司 |
| 发明人： | 陈健;翁晓光;康家宁;黄启是 |
| 专利状态： | 有效 |
| 发布日期： | 2019-01-01T00:00:00+0800 |
| 申请号： | CN201810732725.8 |
| 公开号： | CN109100360A |
| 代理机构： | 厦门致群专利代理事务所(普通合伙) 35224 |
| 代理人： | 陆庆红;张谦 |
| 分类号： | G01N21/89(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N21;G01N21/89 |
| 申请人地址： | 362000 福建省泉州市鲤城区南环路907、909号 |
| 主权项： | 1.基于计圈信号及初始固定特征进行瑕疵定位的方法，应用于大圆机上织布的瑕疵定位，所述大圆机包括计圈传感器及圈数感应端，所述圈数感应端随布面转动，其特征在于：所述大圆机还包括相机，所述相机的视口指向布面，所述布面上具有初始固定特征；布面上的每个点在所述相机获取的图像上以恒定速度移动；其瑕疵定位包括以下步骤：S1、获取布面的初始固定特征；S2、获取所述大圆机的计圈信号，记录每圈起始时间，以获取发现初始固定特征或瑕疵的时间；S3、在同一圈或不同圈抓取两组(t1,x1)，(t2,x2)，代入下式计算移动每个分辨率所耗费的时间b； |
| 所属类别： | 发明专利 |
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