专利名称: |
钢铁材料裂纹形成时段的EBSD晶粒取向判定方法 |
摘要: |
一种钢铁材料裂纹形成时段的EBSD晶粒取向判定方法,属于钢铁材料失效分析技术领域,EBSD晶粒取向分析法是通过裂纹两侧晶粒间的取向关系、对接性和裂纹扩展路径与体心立方结构{100}晶面的关系判定裂纹形成的时段。优点在于,与现有金相观察法相比,EBSD晶粒取向分析法可提供裂纹两侧晶粒的取向信息和相互间关系,并绘制出裂纹扩展路径与体心立方结构{100}晶面的关系,而这是常规光学显微镜和扫描电子显微镜所不能观察到的隐含信息,这些隐含信息正是从本质上判定裂纹形成时段的关键。 |
专利类型: |
发明专利 |
国家地区组织代码: |
北京;11 |
申请人: |
北京北冶功能材料有限公司 |
发明人: |
文新理;章清泉;李振瑞;张荣;李丽敏;王超;曹宇;吴会云;魏然 |
专利状态: |
有效 |
发布日期: |
2019-01-01T00:00:00+0800 |
申请号: |
CN201711456702.0 |
公开号: |
CN108226198A |
代理机构: |
北京华谊知识产权代理有限公司 11207 |
代理人: |
王普玉 |
分类号: |
G01N23/203(2006.01)I;G01N1/32(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/203;G01N1/32 |
申请人地址: |
100192 北京市海淀区清河小营东路1号院 |
主权项: |
1.一种钢铁材料裂纹形成时段的EBSD晶粒取向判定方法,其特征在于,具体步骤及参数如下:1)在裂纹处加工一个包含裂纹的试样,试样长度5~10mm、宽度5~10mm、厚度2~5mm,裂纹所在平面为上述长度和宽度构成的平面,对裂纹所在平面采用砂纸由粗至细依次打磨,打磨后的试样在金相抛光机上采用机械法抛光,去除金相观察面上的划痕,抛光后的样品使用酒精溶液擦拭干净并使用吹风机的冷风吹干;2)去除打磨和机械抛光过程中在样品表面形成的变形层,以免影响EBSD标定效果,对样品进行电解抛光;准备高氯酸酒精溶液和直流电源一个,以试样为阳极在高氯酸酒精溶液中进行电解抛光,抛光电压20~50V,抛光时间10~20s,电解抛光后的试样使用酒精溶液擦拭干净并使用吹风机的冷风吹干;3)经电解抛光后的试样采用EBSD标定晶粒取向信息,标定步长为最小晶粒直径的1/10~1/5,标定后的晶粒取向信息经EBSD系统自带的后处理程序处理后得到晶粒取向的IPF图,并描绘出裂纹扩展路径与体心立方结构{100}晶面之间的关系;4)当IPF图显示裂纹两侧晶粒的晶界能很好对接,且裂纹扩展路径与铁素体相的一个{100}晶面平行,判定裂纹是沿着铁素体相的解理面扩展的,裂纹的形成时段在“奥氏体→铁素体+珠光体”组织转变完成后;反之,当IPF图显示裂纹两侧晶粒的晶界不能很好对接,且裂纹扩展路径与铁素体相的任意一个{100}晶面都不平行,则说明裂纹不是在“奥氏体→铁素体+珠光体”组织转变完成后形成的,即裂纹形成于“奥氏体→铁素体+珠光体”组织转变前。 |
所属类别: |
发明专利 |