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原文传递 电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法
专利名称: 电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法
摘要: 本发明公开了一种电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法,属于轧钢技术领域。它包括对电缆钢盘条缺陷部位取样分析,得到具备如下特征的混晶缺陷类型;1)电缆钢盘条腐蚀后的边缘较大晶粒,晶粒级别在0~3级,晶粒平均直径在1毫米以上;II)电缆钢盘条腐蚀后的中间柱状晶,柱状晶的晶粒度级别在1~4级,晶粒平均直径在1毫米与0.5毫米之间;III)电缆钢盘条腐蚀后的外围一圈大晶粒,大晶粒晶粒度级别在3~5级,呈等轴晶形状,晶粒平均直径在0.1毫米与0.5毫米之间。该判定方法通过检测到的混晶缺陷类型快速确定电缆钢盘条晶粒混晶缺陷产生的环节,以此从源头加热工艺和轧制工艺上采取针对性的质量改进和控制措施,减少不合格品,减少降级或者改判数量。
专利类型: 发明专利
国家地区组织代码: 湖北;42
申请人: 武汉钢铁有限公司
发明人: 陶勇;杨国义;雷波荣;贾万军;刘善青;王明君;古兵平
专利状态: 有效
申请日期: 2019-07-30T00:00:00+0800
发布日期: 2019-11-05T00:00:00+0800
申请号: CN201910696780.0
公开号: CN110412039A
代理机构: 武汉开元知识产权代理有限公司
代理人: 赵龙骧
分类号: G01N21/88(2006.01);G;G01;G01N;G01N21
申请人地址: 430083 湖北省武汉市青山区厂前2号门股份公司机关
主权项: 1.一种电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法,它包括对电缆钢盘条缺陷部位取样分析,得到具备如下特征的混晶缺陷类型; 1)电缆钢盘条腐蚀后的边缘较大晶粒,所述晶粒级别为0~3级,晶粒平均直径控制在1毫米以上; II)电缆钢盘条腐蚀后的中间柱状晶,所述柱状晶的晶粒度级别为1~4级,晶粒平均直径控制在1毫米与0.5毫米之间; III)电缆钢盘条腐蚀后的外围一圈大晶粒,所述大晶粒晶粒度级别为3~5级,具备等轴晶形状,晶粒平均直径控制在0.1毫米与0.5毫米之间。 2.根据权利要求1所述电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法,其特征在于:如果发现所述I)和II)类型的混晶缺陷,那么整个卷次的电缆钢盘条作废。 3.根据权利要求1所述电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法,其特征在于:所述III)类型的混晶缺陷在混晶极差不高于3级时是允许的,如果大于3级,则整个卷次的电缆钢盘条判废。 4.根据权利要求1~3中任意一项所述电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法,其特征在于:对电缆钢盘条缺陷部位取样分析包括如下操作步骤: 1)对热轧后电缆钢盘条的头部和/或尾部取样; 2)对截取的试样沿垂直于轧制方向切割; 3)制备金相试样; 4)对金相试样开展晶粒度检验分析; 5)按照晶粒度晶粒混晶形貌、晶粒混晶大小、晶粒混晶形态及晶粒混晶分布方式对电缆钢盘条进行分析。 5.根据权利要求4所述电缆钢盘条晶粒混晶缺陷类型的判定方法,其特征在于:步骤3)中按照GB/T13298-2015标准进行试样制备。
所属类别: 发明专利
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