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原文传递一种检测银铜矿中银铜含量的方法

专利名称：	一种检测银铜矿中银铜含量的方法
摘要：	本发明公开了一种检测银铜矿中银铜含量的方法，其特征在于，主要包括以下步骤：样品的烘干、粉碎和压片制样；确定检测条件和仪器配置；绘制银元素和铜元素的标准曲线；最后进行样品检测分析。与现有技术相比，本发明具有检测速度快、分析精度高、经济环保、安全有效等特点，填补了本领域对于低品位银元素的检测空白，能够应用于矿山和选矿厂样品检测，可以指导矿山及选矿厂生产。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	新疆;65
申请人：	新疆维吾尔自治区地质矿产勘查开发局第一地质大队
发明人：	冯如朋;唐妙红;彭玉玲
专利状态：	有效
发布日期：	2019-01-01T00:00:00+0800
申请号：	CN201810126086.0
公开号：	CN108088866A
代理机构：	石河子恒智专利商标代理事务所(普通合伙) 65102
代理人：	李靖
分类号：	G01N23/223(2006.01)I;G01N1/28(2006.01)I;G;G01;G01N;G01N23;G01N1;G01N23/223;G01N1/28
申请人地址：	838204 新疆维吾尔自治区吐鲁番市连木沁镇新疆维吾尔自治区地质矿产勘查开发局第一地质大队
主权项：	一种检测银铜矿中银铜含量的方法，其特征在于，主要包括以下步骤：(一)、样品处理a、烘干：将样品置于烘箱中，在温度为60℃～80℃的条件下烘干1.5～2.5h；b、粉碎：将经步骤a烘干后的样品粉碎至180～220目；c、制样：先将硼酸放入样环，然后倒入步骤b所得的样品，使样品四周和底部被硼酸包裹，开启压片机，将样品压制成圆饼状，备用；(二)、标准曲线的绘制所述仪器配置为：X射线光管采用铑靶，探测器采用美国原装SDD电制冷探测器，X光管滤光片选用0.05mmMo滤光片；所述检测条件为：管压43～48kv，管流350～450uA，检测时间150s～250s；a、银元素的标准曲线以含量20g·t^‑1～200g·t^‑1区间为标准工作曲线1；以含量200g·t^‑1～3000g·t^‑1区间为标准工作曲线2；以含量3000g·t^‑1～10000g·t^‑1区间为标准工作曲线3；以含量10000g·t^‑1～18000g·t^‑1区间为标准工作曲线4；取银元素含量为20g/t，30g/t，40g/t，50g/t，60g/t，70g/t，80g/t，90g/t，100g/t，110g/t，120g/t，130g/t，140g/t，150g/t，160g/t，170g/t，180g/t，190g/t，200g/t的样品，按照上述方法压片，置于样品室进行分析检测并采集信号值，以信号值为纵坐标，元素含量为横坐标，绘制标准曲线1；取银元素含量为100g/t，200g/t，400g/t，600g/t，800g/t，1000g/t，1200g/t，1400g/t，1600g/t，1800g/t，2000g/t，2200g/t，2400g/t，2600g/t，2800g/t，3000g/t，3200g/t，的样品，按照上述方法压片，置于样品室进行分析检测并采集信号值，以信号值为纵坐标，元素含量为横坐标，绘制标准曲线2；取银元素含量为2500g/t，2800g/t，3000g/t，3500g/t，4000g/t，4500g/t，5000g/t，5500g/t，6000g/t，6500g/t，7000g/t，7500g/t，8000g/t，8500g/t，9000g/t，9500g/t，10000g/t，10500g/t，11000g/t的样品，按照上述方法压片，置于样品室进行分析检测并采集信号值，以信号值为纵坐标，元素含量为横坐标，绘制标准曲线3；取银元素含量为9000g/t，9500g/t，10000g/t，10500g/t，11000g/t，11500g/t，12000g/t，12500g/t，13000g/t，13500g/t，14000g/t，14500g/t，15000g/t，15500g/t，16000g/t，16500g/t，17000g/t，17500g/t，18000g/t的样品，按照上述方法压片，置于样品室进行分析检测并采集信号值，以信号值为纵坐标，元素含量为横坐标，绘制标准曲线4；b、铜元素的标准曲线以含量0.001％～5％区间为标准工作曲线1，以含量5％～12.5％区间为标准工作曲线2；取铜元素含量为0.001％，0.005％，0.010％，0.025％，0.050％，0.100％，0.250％，0.500％，0.750％，1.000％，1.500％，2.000％，2.500％，3.000％，3.500％，4.000％，4.500％，5.000％，5.500％的样品，按照上述方法压片，置于样品室进行分析检测并采集信号值，以信号值为纵坐标，元素含量为横坐标，绘制标准曲线1；取铜元素含量为4.500％，5.000％，5.500％，6.000％，6.500％，7.000％，7.500％，8.000％，8.500％，9.000％，9.500％，10.000％，10.500％，11.000％，11.500％，12.000％，12.500％，13.000％，13.500％的样品，按照上述方法压片，置于样品室进行分析检测并采集信号值，以信号值为纵坐标，元素含量为横坐标，绘制标准曲线2；(三)、样品检测将经步骤(一)制得的待测样品，按照步骤(二)所述的仪器配置和检测条件，置于样品室进行X荧光光谱分析，采集信号值，根据信号值所在的范围区间对应的标准曲线，计算出待测样品中银元素或铜元素的含量值。
所属类别：	发明专利