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原文传递一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法

专利名称：	一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法
摘要：	本发明公开了一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法，包括：a)对含有银颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理，获得含有同位素稀释剂的单细胞阵列；b)采用激光剥蚀‑电感耦合等离子体质谱法(LA‑ICP‑MS)测定阵列中单细胞109Ag/107Ag的比值，根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。本发明提供了一种在单细胞水平研究细胞与纳米材料相互作用的过程和机制，采用同位素稀释法结合LA‑ICP‑MS定量分析了单细胞中的银纳米颗粒的含量，定量分析结果准确，分析通量高。
专利类型：	发明专利
国家地区组织代码：	北京;11
申请人：	中国科学院高能物理研究所
发明人：	王萌;郑令娜;汪冰;陈汉清;丰伟悦
专利状态：	有效
申请日期：	2019-03-29T00:00:00+0800
发布日期：	2019-06-18T00:00:00+0800
申请号：	CN201910246159.4
公开号：	CN109900623A
代理机构：	北京中知君达知识产权代理有限公司
代理人：	李辰
分类号：	G01N15/10(2006.01);G;G01;G01N;G01N15
申请人地址：	100049 北京市石景山区玉泉路19号(乙)院
主权项：	1.一种单细胞中银纳米颗粒含量的分析方法，包括： a)对含有银颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理，获得含有同位素稀释剂的单细胞阵列； b)采用激光剥蚀-电感耦合等离子体质谱法测定单细胞阵列中单细胞109Ag/107Ag的比值，根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。 2.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述步骤b)包括：用点激光剥蚀对含有同位素稀释剂的单细胞阵列进行处理；选取109Ag、107Ag和31P作为待测同位素进行测量，计算得到109Ag/107Ag的比值，根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量。 3.根据权利要求2所述的分析方法，其特征在于，所述点激光剥蚀进行处理时的剥蚀深度为15-25μm。 4.根据权利要求3所述的分析方法，其特征在于，所述点激光剥蚀进行处理时激光能量为2.0J/cm2-3.0J/cm2，激光频率为8-15Hz，光斑尺寸为45μm-70μm。 5.根据权利要求4所述的分析方法，其特征在于，所述步骤b)中用电感耦合等离子体质谱法进行处理的条件为功率1000-2000W、雾化气流速为0.8L/min-1.2L/min、辅助气流速为0.7L/min-1.2L/min。 6.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述计算得到109Ag/107Ag的比值，根据所述109Ag/107Ag的比值计算得到单细胞中银纳米颗粒的含量，具体为：根据公式(1)测量得到单细胞中银纳米颗粒的含量：其中：msp，ms分别是稀释剂和单细胞中Ag元素的质量；Absp，Abs分别为稀释剂和单细胞中同位素109Ag的丰度；Rsp，Rs，Rm分别为在稀释剂、单细胞和混合样品中同位素109Ag和同位素107Ag的比值。 7.根据权利要求1所述的分析方法，其特征在于，所述步骤a)中同位素稀释剂为2％HNO3的109Ag溶液。 8.根据权利要求1至7任一项所述的分析方法，其特征在于，对含有银颗粒的单细胞阵列用同位素稀释剂进行处理具体为：利用喷墨打印机将同位素稀释剂109Ag溶液打印到单细胞阵列上，溶液点与点之间的间距设定为150μm-240μm。 9.根据权利要求8所述的分析方法，其特征在于，在步骤a)之前还包括制备带有银纳米颗粒的单细胞阵列的步骤。 10.根据权利要求9所述的分析方法，其特征在于，所述制备带有银纳米颗粒的单细胞阵列的步骤具体为：用磷酸盐缓冲溶液清洗微孔阵列，真空脱气后，在微孔中加入单细胞悬液，用磷酸盐缓冲液进行冲洗得到在微孔中的单细胞阵列。
所属类别：	发明专利